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一种主轴热伸长测试方法及测试装置

申请号: CN202410099738.1
申请人: 深圳市爱贝科精密工业股份有限公司; 爱贝科精密工业(惠州)有限公司
更新日期: 2026-03-17

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种主轴热伸长测试方法及测试装置
专利类型 发明申请
申请号 CN202410099738.1
申请日 2024/1/24
公告号 CN117611654A
公开日 2024/2/27
IPC主分类号 G06T7/60
权利人 深圳市爱贝科精密工业股份有限公司; 爱贝科精密工业(惠州)有限公司
发明人 农乃昌; 杨丹群; 李存杰
地址 广东省深圳市龙华区观澜街道凹背社区大富工业区20号硅谷动力智能终端产业园A6栋1楼、2楼; 广东省惠州市仲恺高新区潼侨镇新华居委会侨安花园3号商铺

摘要文本

本申请提供了一种主轴热伸长测试方法及测试装置,通过启动热伸长测试后,获取目标主轴的热伸长监测图像集,对所述热伸长监测图像集中的每张热伸长监测图像进行灰度转换,得到热伸长灰度图像集,选取所述热伸长灰度图像集中的一张热伸长灰度图像,确定该张热伸长灰度图像的灰度残差基,通过所述灰度残差基确定该张热伸长灰度图像的残差特征熵,重复上述步骤,确定所述热伸长灰度图像集中剩余热伸长灰度图像的残差特征熵,根据所有的残差特征熵确定目标主轴热伸长的增长系数,通过所述增长系数确定目标主轴的热伸长量,避免了高温引起的微透镜效应对主轴热伸长测量准确性的影响,可实现主轴在高温下的热伸长测量。

专利主权项内容

1.一种主轴热伸长测试方法,其特征在于,包括如下步骤:启动热伸长测试,获取目标主轴的热伸长监测图像集;对所述热伸长监测图像集中的每张热伸长监测图像进行灰度转换,得到热伸长灰度图像集;选取所述热伸长灰度图像集中的一张热伸长灰度图像,确定该张热伸长灰度图像的灰度残差基,通过所述灰度残差基确定该张热伸长灰度图像的残差特征熵,重复上述步骤,确定所述热伸长灰度图像集中剩余热伸长灰度图像的残差特征熵;根据所有的残差特征熵确定目标主轴热伸长的增长系数;通过所述增长系数确定目标主轴的热伸长量。