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一种抗变形的显卡集成电路板及制备工艺

申请号: CN202410204040.1
申请人: 倍利得电子科技(深圳)有限公司
更新日期: 2026-03-17

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种抗变形的显卡集成电路板及制备工艺
专利类型 发明申请
申请号 CN202410204040.1
申请日 2024/2/23
公告号 CN117812849A
公开日 2024/4/2
IPC主分类号 H05K3/40
权利人 倍利得电子科技(深圳)有限公司
发明人 蒋世俊; 李春旺; 廖雪平; 刘壹顺; 饶瑶
地址 广东省深圳市龙华区观澜街道大富社区泗黎路514号倍利得工业园主厂房101、201, 办公楼三楼

摘要文本

本发明涉及显卡集成电路板的制备技术领域,提供了一种抗变形的显卡集成电路板的制备工艺,包括:对显卡集成电路板的表面进行化学刻蚀、覆铜和钻孔;对显卡集成电路板进行焊盘喷镀获得喷镀区域;包括:获取锡铅合金的喷镀状态,基于喷镀状态获取锡铅合金的喷镀覆盖率;获取喷镀覆盖率合格的显卡集成电路板,基于喷镀接触角度数据模型设置喷镀参数,对喷镀区域进行喷镀,完成喷镀工作,计算获得喷镀区域的润湿度值,将润湿度值与润湿度阈值进行比较;在显卡集成电路板的焊盘上涂覆印刷焊膏,然后置于回流焊设备中,对焊膏进行加热和冷却,获得显卡集成电路板。

专利主权项内容

1.一种抗变形的显卡集成电路板的制备工艺,其特征在于,包括:步骤一:对显卡集成电路板的表面进行化学刻蚀、覆铜和钻孔;步骤二:对显卡集成电路板进行焊盘喷镀获得喷镀区域;包括:A1:获取锡铅合金的喷镀状态,基于喷镀状态获取锡铅合金的喷镀覆盖率,并标记为PF;A2:判断喷镀覆盖率PF是否处于预设喷镀覆盖率值域[PFx,PFy]内;其中,PFx<1<PFy;若喷镀覆盖率PF小于预设喷镀覆盖率值PFx,则获得喷镀覆盖率未达标信号;若喷镀覆盖率PF大于预设喷镀覆盖率值PFx,则获得喷镀覆盖率超标信号;若喷镀覆盖率PF在预设喷镀覆盖率值域[PFx,PFy]内,则表示喷镀覆盖率合格,得到喷镀覆盖率合格的喷镀区域;A3:获取喷镀覆盖率合格的显卡集成电路板,基于喷镀接触角度数据模型设置喷镀参数,对喷镀区域进行喷镀,完成喷镀工作,获得喷镀区域的喷镀厚度值并标记为PH,计算获得喷镀接触角度值JC,同时获取喷镀温度值PW,计算获得喷镀区域的润湿度值,并标记为RS;A4:将润湿度值RS与润湿度阈值RSy进行比较;若润湿度值RS小于润湿度阈值RSy,则生成喷镀不合格信号;若润湿度值RS大于等于润湿度阈值RSy,则生成喷镀合格信号;得到润湿度值RS合格的喷镀区域;步骤三:在显卡集成电路板的焊盘上涂覆印刷焊膏,然后置于回流焊设备中,对焊膏进行加热和冷却,获得显卡集成电路板。。来自: