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用于测试用例实例代码生成的方法、计算机设备及介质

申请号: CN202410173172.2
申请人: 深圳星云智联科技有限公司
更新日期: 2026-03-17

专利详细信息

项目 内容
专利名称 用于测试用例实例代码生成的方法、计算机设备及介质
专利类型 发明申请
申请号 CN202410173172.2
申请日 2024/2/7
公告号 CN117724984A
公开日 2024/3/19
IPC主分类号 G06F11/36
权利人 深圳星云智联科技有限公司
发明人 谢日昌
地址 广东省深圳市龙华区民治街道大岭社区安宏基天曜广场1栋A座23A01

摘要文本

本申请涉及计算机技术领域并提供一种用于测试用例实例代码生成的方法、计算机设备及介质。方法包括:确定第一测试用例相关联的第一测试用例需求;基于所述第一测试用例需求,从配置表项平台所包括的多个寄存器模型中选择至少一个寄存器模型;基于所述第一深度,遍历所述至少一个随机存取存储器中的每一个随机存取存储器的与所述第一深度对应的配置表项,以及,分别地基于所述至少一个随机存取存储器中的每一个随机存取存储器的与所述第一深度对应的配置表项的测试域段,生成与所述至少一个寄存器模型一一对应的至少一个第一测试用例实例代码。如此,提高验证效率,提高芯片的整体开发效率、缩短芯片开发周期和提高响应速度。

专利主权项内容

1.一种用于测试用例实例代码生成的方法,其特征在于,所述方法包括:确定第一测试用例相关联的第一测试用例需求,其中,所述第一测试用例需求包括第一校验操作和第一深度;基于所述第一测试用例需求,从配置表项平台所包括的多个寄存器模型中选择至少一个寄存器模型,其中,所述多个寄存器模型各自对应一种校验操作和一种测试操作组合,所述多个寄存器模型与多个随机存取存储器一一对应,所述多个随机存取存储器各自包括多个配置表项,所述多个配置表项各自包括校验域段和测试域段,所述至少一个寄存器模型所对应的校验操作均是所述第一校验操作,所述至少一个寄存器模型对应所述多个随机存取存储器中的至少一个随机存取存储器;基于所述第一深度,遍历所述至少一个随机存取存储器中的每一个随机存取存储器的与所述第一深度对应的配置表项,以及,分别地基于所述至少一个随机存取存储器中的每一个随机存取存储器的与所述第一深度对应的配置表项的测试域段,生成与所述至少一个寄存器模型一一对应的至少一个第一测试用例实例代码,其中,所述至少一个第一测试用例实例代码用于所述第一测试用例相关联的验证测试。