基于人工智能的集成电路验证方法、装置及存储介质

专利主权项内容

1.一种基于人工智能的集成电路验证方法，其特征在于，应用于集成电路验证装置，所述方法包括：获取集成电路模拟测试报告队列，所述集成电路模拟测试报告队列包括若干个前序集成电路验证周期的集成电路模拟测试报告，所述前序集成电路验证周期的集成电路模拟测试报告，是根据设定IC功能标签的最少一个参考IC电路实例在所述前序集成电路验证周期的模拟测试量化结果获得的；将所述集成电路模拟测试报告队列进行拆解得到若干个模拟测试报告组；针对每个所述模拟测试报告组，根据所述模拟测试报告组进行模拟测试推导，得到所述设定IC功能标签的IC电路实例在若干个指定集成电路验证周期的模拟测试推导结果；每个所述模拟测试报告组中不同的集成电路模拟测试报告，用于推导不同指定集成电路验证周期的模拟测试推导结果；依据每个所述模拟测试报告组分别推导生成的若干个指定集成电路验证周期的模拟测试推导结果，生成所述设定IC功能标签的IC电路实例在目标验证周期的模拟测试推导结果队列，所述目标验证周期包括各所述指定集成电路验证周期。