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晶圆表面缺陷的视觉检测方法及系统
申请人信息
- 申请人:深圳市志合云创科技有限公司
- 申请人地址:518000 广东省深圳市龙岗区南湾街道丹竹头社区中兴路12号1号厂房C栋3层22室
- 发明人: 深圳市志合云创科技有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 晶圆表面缺陷的视觉检测方法及系统 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410231487.8 |
| 申请日 | 2024/3/1 |
| 公告号 | CN117808809A |
| 公开日 | 2024/4/2 |
| IPC主分类号 | G06T7/00 |
| 权利人 | 深圳市志合云创科技有限公司 |
| 发明人 | 请求不公布姓名; 请求不公布姓名; 请求不公布姓名; 请求不公布姓名; 请求不公布姓名 |
| 地址 | 广东省深圳市龙岗区南湾街道丹竹头社区中兴路12号1号厂房C栋3层22室 |
摘要文本
本发明涉及产品缺陷检测技术领域,提供了一种晶圆表面缺陷的视觉检测方法及系统,包括:对晶圆视觉图像进行背景去除处理,得到无背景晶圆图像,提取无背景晶圆图像对应的图像尺寸参数,对无背景晶圆图像进行平滑处理,得到平滑晶圆图像;计算平滑晶圆图像对应的像素优化权重,对平滑晶圆图像进行图像优化处理,得到优化晶圆图像,对优化晶圆图像进行聚类分割处理,得到分割晶圆图像,对分割晶圆图像进行纹理去除,得到目标晶圆图像;计算图像形状矩之间的形状相似度;提取缺陷图像对应的缺陷特征,分析目标晶圆图像对应的缺陷类别,生成目标晶圆图像对应的缺陷检测结果。本发明在于提高晶圆表面缺陷检测的准确性。
专利主权项内容
1.一种晶圆表面缺陷的视觉检测方法,其特征在于,所述方法包括:采集待检测晶圆的晶圆视觉图像,对所述晶圆视觉图像进行背景去除处理,得到无背景晶圆图像,并提取所述无背景晶圆图像对应的图像尺寸参数,结合所述图像尺寸参数,对所述无背景晶圆图像进行平滑处理,得到平滑晶圆图像;利用预设的优化函数计算所述平滑晶圆图像对应的像素优化权重,根据所述像素优化权重,对所述平滑晶圆图像进行图像优化处理,得到优化晶圆图像,对所述优化晶圆图像进行聚类分割处理,得到分割晶圆图像,对所述分割晶圆图像进行纹理去除,得到目标晶圆图像;构建所述目标晶圆图像对应的图像形状矩,结合所述目标晶圆图像,计算所述图像形状矩之间的形状相似度,根据所述形状相似度,识别出所述目标晶圆图像中的缺陷图像;识别所述缺陷图像中的缺陷位置,并提取所述缺陷图像对应的缺陷特征,根据所述缺陷特征,分析所述目标晶圆图像对应的缺陷类别,根据所述缺陷位置和所述缺陷类别,生成所述目标晶圆图像对应的缺陷检测结果。