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晶圆表面缺陷的视觉检测方法及系统

申请号: CN202410231487.8
申请人: 深圳市志合云创科技有限公司
更新日期: 2026-03-17

专利详细信息

项目 内容
专利名称 晶圆表面缺陷的视觉检测方法及系统
专利类型 发明申请
申请号 CN202410231487.8
申请日 2024/3/1
公告号 CN117808809A
公开日 2024/4/2
IPC主分类号 G06T7/00
权利人 深圳市志合云创科技有限公司
发明人 请求不公布姓名; 请求不公布姓名; 请求不公布姓名; 请求不公布姓名; 请求不公布姓名
地址 广东省深圳市龙岗区南湾街道丹竹头社区中兴路12号1号厂房C栋3层22室

摘要文本

本发明涉及产品缺陷检测技术领域,提供了一种晶圆表面缺陷的视觉检测方法及系统,包括:对晶圆视觉图像进行背景去除处理,得到无背景晶圆图像,提取无背景晶圆图像对应的图像尺寸参数,对无背景晶圆图像进行平滑处理,得到平滑晶圆图像;计算平滑晶圆图像对应的像素优化权重,对平滑晶圆图像进行图像优化处理,得到优化晶圆图像,对优化晶圆图像进行聚类分割处理,得到分割晶圆图像,对分割晶圆图像进行纹理去除,得到目标晶圆图像;计算图像形状矩之间的形状相似度;提取缺陷图像对应的缺陷特征,分析目标晶圆图像对应的缺陷类别,生成目标晶圆图像对应的缺陷检测结果。本发明在于提高晶圆表面缺陷检测的准确性。

专利主权项内容

1.一种晶圆表面缺陷的视觉检测方法,其特征在于,所述方法包括:采集待检测晶圆的晶圆视觉图像,对所述晶圆视觉图像进行背景去除处理,得到无背景晶圆图像,并提取所述无背景晶圆图像对应的图像尺寸参数,结合所述图像尺寸参数,对所述无背景晶圆图像进行平滑处理,得到平滑晶圆图像;利用预设的优化函数计算所述平滑晶圆图像对应的像素优化权重,根据所述像素优化权重,对所述平滑晶圆图像进行图像优化处理,得到优化晶圆图像,对所述优化晶圆图像进行聚类分割处理,得到分割晶圆图像,对所述分割晶圆图像进行纹理去除,得到目标晶圆图像;构建所述目标晶圆图像对应的图像形状矩,结合所述目标晶圆图像,计算所述图像形状矩之间的形状相似度,根据所述形状相似度,识别出所述目标晶圆图像中的缺陷图像;识别所述缺陷图像中的缺陷位置,并提取所述缺陷图像对应的缺陷特征,根据所述缺陷特征,分析所述目标晶圆图像对应的缺陷类别,根据所述缺陷位置和所述缺陷类别,生成所述目标晶圆图像对应的缺陷检测结果。