集成电路扫描测试的方法及系统
申请人信息
- 申请人:永耀实业(深圳)有限公司
- 申请人地址:518000 广东省深圳市龙岗区平湖街道辅城坳社区岐新一路58号
- 发明人: 永耀实业(深圳)有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 集成电路扫描测试的方法及系统 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410027853.8 |
| 申请日 | 2024/1/8 |
| 公告号 | CN117805593A |
| 公开日 | 2024/4/2 |
| IPC主分类号 | G01R31/28 |
| 权利人 | 永耀实业(深圳)有限公司 |
| 发明人 | 李广洪 |
| 地址 | 广东省深圳市龙岗区平湖街道辅城坳社区岐新一路58号 |
摘要文本
本发明涉及电子测试技术领域，尤其涉及一种集成电路扫描测试的方法及系统。所述方法包括以下步骤：对集成电路进行多通道扫描测试设计和测试点筛选优化处理，以得到集成电路扫描测试优化点；对集成电路扫描测试优化点进行历史运行数据采集和故障程度检测，得到扫描测试点历史运行故障程度值；根据预设的运行故障程度标准值对扫描测试点历史运行故障程度值对应的集成电路扫描测试优化点进行比较判断和扫描测试，以得到集成电路高频故障异步测试数据以及集成电路低频故障时序测试数据；对集成电路高频故障异步测试数据以及集成电路低频故障时序测试数据进行集成分析，以得到集成电路扫描测试集成数据。本发明能够提高扫描测试的效率和精度。
专利主权项内容
1.一种集成电路扫描测试的方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤S1：对集成电路进行多通道扫描测试设计，以得到集成电路多通道扫描测试路径；对集成电路多通道扫描测试路径进行测试点筛选优化处理，以得到集成电路扫描测试优化点；步骤S2：对集成电路扫描测试优化点进行历史运行数据采集，得到扫描测试点历史运行数据；对扫描测试点历史运行数据进行故障程度检测，得到扫描测试点历史运行故障程度值；根据预设的运行故障程度标准值对扫描测试点历史运行故障程度值对应的集成电路扫描测试优化点进行比较判断，以得到集成电路扫描测试高频故障点以及集成电路扫描测试低频故障点；步骤S3：确定集成电路扫描测试优化点为集成电路扫描测试高频故障点时，则对集成电路扫描测试高频故障点进行异步扫描调整测试，以得到集成电路高频故障异步测试数据；步骤S4：确定集成电路扫描测试优化点为集成电路扫描测试低频故障点时，则对集成电路扫描测试低频故障点进行高速时序扫描测试，以得到集成电路低频故障时序测试数据；步骤S5：对集成电路高频故障异步测试数据以及集成电路低频故障时序测试数据进行集成分析，以得到集成电路扫描测试集成数据。。来源：百度马 克 数据网