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一种芯片存储状态的监控方法和系统
申请人信息
- 申请人:深圳超盈智能科技有限公司
- 申请人地址:518000 广东省深圳市龙岗区坂田街道象角塘社区中浩路1号美竹巷润昌工业园厂区厂房A栋五层
- 发明人: 深圳超盈智能科技有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种芯片存储状态的监控方法和系统 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410212906.3 |
| 申请日 | 2024/2/27 |
| 公告号 | CN117785619A |
| 公开日 | 2024/3/29 |
| IPC主分类号 | G06F11/30 |
| 权利人 | 深圳超盈智能科技有限公司 |
| 发明人 | 夏俊杰; 林华胜 |
| 地址 | 广东省深圳市龙岗区坂田街道象角塘社区中浩路1号美竹巷润昌工业园厂区厂房A栋五层 |
摘要文本
本发明公开了一种芯片存储状态的监控方法和系统，通过多个维度的参数监控存储芯片的存储状态，确定可用存储芯片的数量，再根据所需的存储芯片的数量和可用存储芯片的数量，确定目标数据在可用存储芯片上的调度方案，依据该调度方案依据该存储状态对待存储数据进行分块式并行存储或读取。借助本发明的方法可以实现待存储数据快速、无损的存储和已存储数据快速、无损的读取。
专利主权项内容
1.一种芯片存储状态的监控方法 ，其特征在于，包括：获得目标数据，确定所述目标数据所需的存储芯片的数量N ，以及在目标过程中，确定可用存储芯片的数量M，再根据所述所需的存储芯片的数量N和可用存储芯片的数量M，确定所述目标数据在所述M个可用存储芯片上的调度方案，其中N、M都是大于等于1的自然数；所述可用存储芯片的数量M的确定过程为：遍历所有L个存储芯片，获得每个存储芯片的Q个特征参数X、X……X，令12jZ=，i=1…n，α为系数；ij对Z进行Sigmoid变换，则有：iF(Z)=∈(0, 1)，i=1…nii预设Fi的判定阈值A，A∈(0, 1)，判定：F(Z)通过F(Z)≥AiiiiF(Z)不通过F(Z)＜Aiiii获得所有F(Z)≥A的存储芯片的数量为M；ii其中，所述目标过程为将所述目标数据存入所述存储芯片的过程。