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一种光伏组件表面积灰检测方法、积灰传感器及监测系统

申请号: CN202410093396.2
申请人: 南京旗云中天科技有限公司
更新日期: 2026-03-17

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种光伏组件表面积灰检测方法、积灰传感器及监测系统
专利类型 发明授权
申请号 CN202410093396.2
申请日 2024/1/23
公告号 CN117607160B
公开日 2024/3/29
IPC主分类号 G01N21/94
权利人 南京旗云中天科技有限公司
发明人 王永; 汤金平; 安双登
地址 江苏省南京市江北新区科创大道9号A11幢五层

摘要文本

本发明公开了一种光伏组件表面积灰检测方法、积灰传感器及监测系统,方法包括:至少包括两个光伏组件玻璃面板对照组,一组定期清洁以保持洁净状态,一组保持积灰状态;通过光谱元件和光敏元件同时探测透过洁净、积灰光伏组件玻璃面板的各波段太阳辐射强度;再将洁净光伏组件玻璃面板的波段太阳辐射强度与辐射阈值进行对比;宽波段太阳辐射强度大于等于辐射阈值时,获取多波段积灰污染比和宽波段积灰污染比;利用宽波段积灰污染比对多波段积灰污染比进行校准,获取校准后多波段积灰污染比。本发明中,积灰传感器可以探测光伏组件积灰对不同波段太阳光谱的影响,更符合真实的应用场景可适应多种光伏面板类型积灰污染比的测量。

专利主权项内容

1.一种光伏组件表面积灰检测方法,其特征在于,包括以下步骤:S100,提供两个光伏组件玻璃面板,形成对照组,并且在所述两个光伏组件玻璃面板上分别放置有光谱元件和光敏元件;其中,第一光伏组件玻璃面板定期清理,以保持清洁状态,第二光伏组件玻璃面板保持积灰状态;S200,第一光谱元件探测透过所述第一光伏组件玻璃面板的第一太阳光谱辐射强度,同时,第一光敏元件探测透过所述第一光伏组件玻璃面板的第一宽波段太阳辐射强度;S300,与S200同一时刻,第二光谱元件探测透过所述第二光伏组件玻璃面板的第二太阳光谱辐射强度,同时,通过第二光敏元件探测透过所述第二光伏组件玻璃面板的第二宽波段太阳辐射强度;S400,将所述第一宽波段太阳辐射强度与辐射阈值进行对比;其中,所述辐射阈值为经验值;S500,当所述第一宽波段太阳辐射强度大于等于所述辐射阈值时,获取多波段积灰污染比和宽波段积灰污染比;S600,利用所述宽波段积灰污染比对所述多波段积灰污染比进行校准,获取校准后多波段积灰污染比;所述多波段积灰污染比通过以下公式获取:
;式中,SR(i)表示为多波段积灰污染比,Rs(i)表示为第一太阳光谱辐射强度,Rs(i)表示为第二太阳光谱辐射强度,A(i)、A(i)均表示为常数,其中,i=1,2…n,n表示光谱波段数量;1201所述宽波段积灰污染比通过以下公式获取:
;式中,SRw表示为宽波段积灰污染比,Rw表示为第一宽波段太阳辐射强度,Rw表示为第二宽波段太阳辐射强度,B、B均表示为常数;1201所述获取校准后多波段积灰污染比包括:根据所述多波段积灰污染比,获取与所述宽波段积灰污染比相同波段范围的平均积灰污染比;根据所述平均积灰污染比和所述宽波段积灰污染比,获取校准系数;根据所述校准系数和所述多波段积灰污染比,获取校准后多波段积灰污染比。。来自马-克-数-据-官网