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一种用于测试大尺寸图像传感器组件的光学系统

申请号: CN202410222776.1
申请人: 南京英田光学工程股份有限公司
更新日期: 2026-03-17

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种用于测试大尺寸图像传感器组件的光学系统
专利类型 发明申请
申请号 CN202410222776.1
申请日 2024/2/28
公告号 CN117784415A
公开日 2024/3/29
IPC主分类号 G02B27/00
权利人 南京英田光学工程股份有限公司
发明人 黎发志; 胡芬; 孙磊强; 周子元
地址 江苏省南京市栖霞区甘家边东108号金港科创园7栋二楼

摘要文本

本发明公开了一种用于测试大尺寸图像传感器组件的光学系统,该光学系统包括主镜、像差改正器、分束模块、输出像面、靶面组件;靶面组件和像差改正器具有对称轴为光轴A,输出像面和主镜具有对称轴为光轴B;该光学系统具有平面对称性,光轴A和光轴B位于其对称平面内;分束模块包括分束平板和补偿模块;该光学系统用于将物体经靶面组件的光波,透过像差改正器折射,再经过分束平板反射,再经过主镜的折射面折射后,被主镜的内反射面反射,再次经过主镜的折射面折射,再透过分束平板反射,再透过补偿模块、最终成像在输出像面处。该光学系统具有较大工作距离,能产生中小数值孔径的大尺寸像面,在大视场范围内和较宽工作波长范围内具有较小像差。

专利主权项内容

来自: 1.一种用于测试大尺寸图像传感器组件的光学系统,其特征在于,该光学系统包括主镜、像差改正器、分束模块、输出像面、靶面组件;所述靶面组件和像差改正器具有对称轴为光轴A,所述输出像面和主镜具有对称轴为光轴B;该光学系统具有平面对称性,光轴A和光轴B位于其对称平面内;分束模块包括分束平板和补偿模块;该光学系统用于将物体经靶面组件的光波,透过像差改正器折射,再经过分束平板反射,再经过主镜的折射面折射后,被主镜的内反射面反射,再次经过主镜的折射面折射,再透过分束平板反射,再透过补偿模块、最终成像在输出像面处;光束透过分束平板时所产生的非常规彗差,由补偿模块所产生的等量反向彗差进行校正,光束透过分束平板和补偿模块时所产生的非常规像散,两者符号相同,其叠加之和,由主镜的内反射面的等量反向像散进行校正。