基于两级校正的干涉仪测向定位方法
申请人信息
- 申请人:中国航天科工集团八五一一研究所
- 申请人地址:211103 江苏省南京市江宁区建衡路99号
- 发明人: 中国航天科工集团八五一一研究所
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 基于两级校正的干涉仪测向定位方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410172312.4 |
| 申请日 | 2024/2/7 |
| 公告号 | CN117724035A |
| 公开日 | 2024/3/19 |
| IPC主分类号 | G01S3/02 |
| 权利人 | 中国航天科工集团八五一一研究所 |
| 发明人 | 吕方晖; 朱伟强; 陈望杰; 苏焕程; 于志良; 何浪; 高兴建; 唐遒; 王天宇; 陈羽 |
| 地址 | 江苏省南京市江宁区建衡路99号 |
摘要文本
本发明公开了一种基于两级校正的干涉仪测向定位方法，属于雷达技术领域，首先对接收信号进行检测、实时校正、相位差测量、测向解模糊、定位处理，输出定位结果。首先接收通道对天线接收的信号进行处理，经过AD采样、FFT等处理得到接收信号到达不同天线的初相位，然后对长电缆产生的路径差进行实时校正；经过相位校正后的相位差中包含了角度信息，利用测量得到的相位差，通过最小二乘法估计出信号的方向余弦，得到脉冲的角度信息；最后利用测向信息进行最小二乘迭代定位解算，得到目标信号的位置信息估计；最后利用校正系统的先验信息，对测量估计结果进行标校，进一步提升系统测向定位的性能。
专利主权项内容
1.一种基于两级校正的干涉仪测向定位方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1、对雷达信号先进行AD采样，再进行信道化检测，得到各通道的信号脉冲序列，转入步骤2；步骤2、对不同通道的信号脉冲序列中的信号分别作FFT，得到信号的频域参数，利用频域参数得到信号的初相位值，各通道的初相位值相减得到多路通道间的相位差，以求得附带相位差信息的原始全脉冲，转入步骤3；步骤3、利用自检校准源在工作频带内产生全频带的校正信号，并根据原始全脉冲中当前信号的频点实时校正电缆、变频器件引入的相位误差/>，得到校正后的全脉冲，转入步骤4；步骤4、根据校正后的全脉冲中的相位差信息，利用最小二乘解模糊方法，进行测向解模糊，得到测向后的全脉冲中信号的方向余弦，获取脉冲角度信息，转入步骤5；步骤5、对测向后的全脉冲进行信号分选，分选得到辐射源，利用校正系统的先验标校信息，根据频点、通道、天线对系统误差进行在线修正，得到修正后的方向余弦，进而得到方向余弦角度修正的辐射源，转入步骤6；步骤6、对修正后的辐射源进行定位解算，假定目标距离接收机的距离为、辐射源的位置/>，/>为大地坐标系到平台坐标系的姿态转移旋转矩阵，利用信号到达角的方向余弦和/>，联合大地坐标系下接收机的位置/>，解算出辐射源位置，计算表达式为：
，其中，方向余弦。