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一种金属电子束焊缺陷检测方法及系统
申请人信息
- 申请人:普森美微电子技术(苏州)有限公司
- 申请人地址:215124 江苏省苏州市中国(江苏)自由贸易试验区苏州片区兴浦路200号9#301、401
- 发明人: 普森美微电子技术(苏州)有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种金属电子束焊缺陷检测方法及系统 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410038292.1 |
| 申请日 | 2024/1/11 |
| 公告号 | CN117576086A |
| 公开日 | 2024/2/20 |
| IPC主分类号 | G06T7/00 |
| 权利人 | 普森美微电子技术(苏州)有限公司 |
| 发明人 | 涂振坤 |
| 地址 | 江苏省苏州市中国(江苏)自由贸易试验区苏州片区兴浦路200号9#301、401 |
摘要文本
本发明涉及图像处理技术领域，具体涉及一种金属电子束焊缺陷检测方法及系统，包括：获取金属电子束的焊接区域图像；获取焊接区域图像中每个像素的局部窗口，根据每个像素的局部窗口得到每个像素的局部特征异常程度；根据每个像素的局部窗口得到每两个像素的特征差异，根据每个像素的梯度方向得到每个像素的光线均匀陈固定，根据特征差异，光线均匀程度以及局部特征异常程度得到每个像素的整体特征异常程度，根据每个像素的整体特征异常程度得到修正后偏移向量，根据修正后偏移向量得到若干分割区域；根据每个分割区域和整体特征异常程度得到若干钉尖缺陷区域。从而通过调整漂移窗口的漂移方向，来实现更准确的分割出钉尖缺陷区域。 百度搜索专利查询网
专利主权项内容
1.一种金属电子束焊缺陷检测方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：获取金属电子束的焊接区域图像；获取焊接区域图像中每个像素的局部窗口，根据每个像素的局部窗口中所有像素的灰度值差异以及灰度值的信息熵得到每个像素的局部特征异常程度；根据每两个像素的局部窗口之间的梯度方向差异以及对比度差异得到每两个像素的特征差异；根据每个像素的梯度方向得到每个像素的光线均匀程度，根据每个像素的光线均匀程度，每个像素的局部特征异常程度以及每两个像素的特征差异得到每个像素的整体特征异常程度；根据每个像素的整体特征异常程度得到修正后偏移向量，根据修正后偏移向量完成所有像素的聚类分析得到若干个分割区域，根据每个分割区域中像素的整体特征异常程度对每个分割区域进行缺陷判定得到若干钉尖缺陷区域。