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一种化学气相沉积法生成拓扑绝缘体薄膜的方法及设备

申请号: CN202410245701.5
申请人: 南京大学; 江苏集创原子团簇科技研究院有限公司
更新日期: 2026-03-20

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种化学气相沉积法生成拓扑绝缘体薄膜的方法及设备
专利类型 发明申请
申请号 CN202410245701.5
申请日 2024/3/5
公告号 CN117822107A
公开日 2024/4/5
IPC主分类号 C30B25/14
权利人 南京大学; 江苏集创原子团簇科技研究院有限公司
发明人 费付聪; 王天奇; 宋凤麒; 顾陆薇
地址 江苏省南京市栖霞区仙林大道163号; 江苏省南京市浦口区桥林街道步月路29号12幢-500

摘要文本

本发明涉及拓扑绝缘体薄膜领域,具体涉及一种化学气相沉积法生成拓扑绝缘体薄膜的方法及设备。所述设备包括外管和内管,所述外管两端分别设有阀门;所述外管左端为抽真空口,并连接真空泵,所述外管右端为辅助气体进气口,以通入辅助气体;所述内管置于外管内,内管左端部设置拓扑绝缘体单晶,右端部相对设置衬底。本发明通过在升温、降温时,通入辅助气体,带走拓扑绝缘体单晶在此过程中挥发的气体,使得薄膜只在温度稳定时进行生长,使得薄膜成分均匀,满足拓扑绝缘体这一特殊材料的需求。

专利主权项内容

1.一种化学气相沉积法生成拓扑绝缘体薄膜的设备,其特征在于,包括外管和内管,所述外管两端分别设有阀门;所述外管左端为抽真空口,并连接真空泵,所述外管右端为辅助气体进气口,以通入辅助气体;所述内管为敞口容器并置于外管内,内管左端部设置拓扑绝缘体单晶,右端部相对设置衬底。