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一种光子晶体镀膜缺陷的在线检测方法及系统

申请号: CN202410034499.1
申请人: 南通纳科达聚氨酯科技有限公司
更新日期: 2026-03-20

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种光子晶体镀膜缺陷的在线检测方法及系统
专利类型 发明申请
申请号 CN202410034499.1
申请日 2024/1/10
公告号 CN117554407A
公开日 2024/2/13
IPC主分类号 G01N23/2251
权利人 南通纳科达聚氨酯科技有限公司
发明人 叶航; 吴继业; 肖琳
地址 江苏省南通市南通高新技术产业开发区金桥路999号

摘要文本

本申请提供了一种光子晶体镀膜缺陷的在线检测方法及系统,涉及缺陷检测技术领域,所述方法包括:生成基础测试结果,通过椭圆偏振光谱仪进行待镀膜光子晶体透光测试的测试结果,执行镀膜操作,通过晶体测试生成透光测试结果,结合对应基础测试结果生成第一异常检测结果,保持光子晶体位置,执行数据采集建立扫描图像,生成第二异常检测结果,最终生成缺陷在线检测结果。本申请主要解决了无法在生产线上实时准确地识别和定位所有缺陷,同时还需要人工干预来进行缺陷的分类和识别,导致误报或漏报的情况发生,无法适应生产线上快速变化的需求。全面地评估镀膜后光子晶体的质量和性能,及时发现并处理问题,提高产品质量和生产效率。

专利主权项内容

1.一种光子晶体镀膜缺陷的在线检测方法,其特征在于,所述方法包括:生成基础测试结果,所述基础测试结果为通过椭圆偏振光谱仪进行待镀膜光子晶体透光测试的测试结果,并建立基础测试结果中光子晶体的唯一标识映射;执行光子晶体的镀膜操作,当任意光子晶体镀膜完成后,通过所述唯一标识映射调用对应基础测试结果;通过所述椭圆偏振光谱仪进行镀膜后的光子晶体测试,生成透光测试结果,并基于透光测试结果和对应基础测试结果生成第一异常检测结果;保持光子晶体位置,通过扫描电子显微镜对镀膜后的光子晶体执行数据采集,建立扫描图像;将所述扫描图像输入图像识别网络,生成第二异常检测结果;根据所述第一异常检测结果和所述第二异常检测结果生成缺陷在线检测结果。