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一种LED模组自动测试系统
申请人信息
- 申请人:常州集励微电子科技有限公司
- 申请人地址:213100 江苏省常州市武进区常武中路18号科教城信息产业园研发楼北一楼
- 发明人: 常州集励微电子科技有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种LED模组自动测试系统 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410075425.2 |
| 申请日 | 2024/1/18 |
| 公告号 | CN117746757A |
| 公开日 | 2024/3/22 |
| IPC主分类号 | G09G3/00 |
| 权利人 | 常州集励微电子科技有限公司 |
| 发明人 | 董琦; 奚谷枫 |
| 地址 | 江苏省常州市武进区常武中路18号科教城信息产业园研发楼北一楼 |
摘要文本
本发明涉及一种LED模组自动测试系统，包括：探针模块，用于自动连接模组；电源模块，用于向模组供电；电流模块，用于测量向模组供电的电流；MCU模块，用于消除电流的抖动影响，并结合电流，完成模组的故障测试；故障测试包括：LED灯开路和短路测试、列信号或行信号无输出测试、行驱或列驱串联不正常测试、列信号之间短路测试、行信号之间短路测试、列信号一直有输出测试和行信号一直有输出测试；其中，探针模块的一端与电流模块的一端连接，电流模块的另一端与电源模块连接，探针模块的另一端与MCU模块连接。通过电流变化判断故障，实现全自动故障测试，效率高。
专利主权项内容
1.一种LED模组自动测试系统，其特征在于，包括：探针模块，用于自动连接模组；电源模块，用于向所述模组供电；电流模块，用于测量向所述模组供电的电流；MCU模块，用于消除所述电流的抖动影响，并结合所述电流，完成所述模组的故障测试；所述故障测试包括：LED灯开路和短路测试、列信号或行信号无输出测试、行驱或列驱串联不正常测试、列信号之间短路测试、行信号之间短路测试、列信号一直有输出测试和行信号一直有输出测试；其中，所述探针模块的一端与电流模块的一端连接，所述电流模块的另一端与所述电源模块连接，所述探针模块的另一端与所述MCU模块连接。