针对氢化环境下材料内部微孔隙的检测方法
申请人信息
- 申请人:江苏龙城精锻集团有限公司; 中国机械总院集团江苏分院有限公司
- 申请人地址:213000 江苏省常州市武进高新区龙域西路26号
- 发明人: 江苏龙城精锻集团有限公司; 中国机械总院集团江苏分院有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 针对氢化环境下材料内部微孔隙的检测方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410233149.8 |
| 申请日 | 2024/3/1 |
| 公告号 | CN117805000A |
| 公开日 | 2024/4/2 |
| IPC主分类号 | G01N15/08 |
| 权利人 | 江苏龙城精锻集团有限公司; 中国机械总院集团江苏分院有限公司 |
| 发明人 | 徐先宜; 庄晓伟; 陈雷鸣; 王玲; 孙伟; 张璇 |
| 地址 | 江苏省常州市武进高新区龙域西路26号; 江苏省常州市武进区常武中路801号常州科教城天鸿科技大厦C座一楼 |
摘要文本
本发明公开了针对氢化环境下材料内部微孔隙的检测方法，涉及物理检测技术领域；本发明通过仿形固定组件对待测材料的两种固定方式，在氢化环境中利用核磁发生器产生射频脉冲，使其待测材料内部产生核磁共振信号，通过检测仪的测量和控制系统的分析处理，以测量氢原子在材料中的分布和运动情况来计算孔隙体积和孔径分布，并模拟高压和低压环境对材料内部微孔隙的影响；仿形固定组件能够对多种外形的材料进行固定，同时其能够在磁场环境中对金属材料进行限位，防止金属材料的移位对检测产生不良影响。
专利主权项内容
1.针对氢化环境下材料内部微孔隙的检测方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、先将待测材料放入检测装置(8)内进行随形固定，并对检测装置(8)内抽真空处理；S2、氢化环境的构建：将氢气调整到正常大气压力值后，通入检测装置(8)内，保压0.5h，检测装置(8)通过两次定形成像模拟并记录待测材料的微孔隙大小、分布以及形状信息并储存，数据记为T；1S3、低压环境的模拟测试：将氢气调整到预定低压压力值Q后，再通入检测装置(8)内，并将排出的氢气回收处理，检测装置(8)内保压0.5h，检测装置(8)通过两次定形成像模拟并记录待测材料的微孔隙大小、分布以及形状信息并储存，数据记为T，检测完成后并对检测装置(8)内的氢气泄压并回收处理；12S4、将氢气调整到预定低压压力值Q-1(N-1)后(其中N≥2)，检测装置(8)内保压0.5h，检测装置(8)通过两次定形成像模拟并记录待测材料的微孔隙大小、分布以及形状信息并储存，数据记为T，重复上述步骤，当待测材料的数据无变化时，直接对该材料进行高压环境的模拟测试；当待测材料的数据存在变化时，最终得到微孔隙破坏的次数N并更换材料，重复S1-S3步骤；11131，S5、高压环境的模拟测试：将氢气调整到预定高压压力值Q后，再通入检测装置(8)内，并将排出的氢气回收处理，检测装置(8)内保压0.5h，检测装置(8)通过两次定形成像模拟并记录待测材料的微孔隙大小、分布以及形状信息并储存，数据记为T，检测完成后并对检测装置(8)内的氢气泄压并回收处理；24S6、将氢气调整到预定高压压力值Q+1(N-1)后(其中N≥2)后，检测装置(8)内保压0.5h，检测装置(8)通过两次定形成像模拟并记录待测材料的微孔隙大小、分布以及形状信息并储存，数据记为T，重复上述步骤，当待测材料的数据无变化时，结束检测；当待测材料的数据存在变化时，最终得到微孔隙破坏的次数N；22252所述检测装置(8)包括：主基架(81)，其侧面固定密封设置有出气口(82)和进气口(83)；升降机构，安设于所述主基架(81)内部，其下端连设有核磁发生器(84)，且所述进气口(83)与气体加载装置相连通，所述出气口(82)与预处理装置相连通；工作台(85)，固定于所述主基架(81)上，且所述工作台(85)上固定有下罩壳(88)和两根导柱(86)，所述核磁发生器(84)两侧均通过L型板竖直滑动设置于两根所述导柱(86)上，且所述L型板与所述工作台(85)间通过套设在所述导柱(86)外侧的缓冲弹簧(87)相连接；仿形固定组件(89)，其设置于所述下罩壳(88)内；所述核磁发生器(84)包括：与所述升降机构相连接的连接柱(841)，所述连接柱(841)下端固定设置有上罩壳(842)，且所述上罩壳(842)与所述出气口(82)、所述进气口(83)通过管路相连通，所述上罩壳(842)下端设置有密封圈(844)；检测仪(843)，其固定于所述上罩壳(842)的内部中心位置处。