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缺陷检测方法和系统

申请号: CN202410211054.6
申请人: 常州微亿智造科技有限公司
更新日期: 2026-03-20

专利详细信息

项目 内容
专利名称 缺陷检测方法和系统
专利类型 发明申请
申请号 CN202410211054.6
申请日 2024/2/27
公告号 CN117786415A
公开日 2024/3/29
IPC主分类号 G06F18/214
权利人 常州微亿智造科技有限公司
发明人 马元巍; 潘正颐; 侯大为; 宋叶未
地址 江苏省常州市钟楼经济开发区玉龙南路280号常州大数据产业园4号楼2楼

摘要文本

本发明提出了一种缺陷检测方法和系统,其中,该方法包括:获取第一训练样本集,并统计相应的缺陷类别集合;从第一训练样本集中选取第一目标训练样本集,并统计第一目标训练样本集中所有缺陷类别的个数;判断第一目标训练样本集中所有缺陷类别的个数是否等于目标预设数;如果第一目标训练样本集中所有缺陷类别的个数小于目标预设数,从第二训练样本集中随机选取出K个除第一目标训练样本集中所有缺陷类别之外的缺陷类别对应的训练样本添加到第一目标训练样本集中以获取第二目标训练样本集;对缺陷检测网络进行训练,以获取相应的缺陷检测模型;对当前训练完的缺陷检测模型进行多次迭代训练,直至缺陷检测模型满足预设条件以目标缺陷检测模型。

专利主权项内容

1.一种缺陷检测方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤S1,获取第一训练样本集,并统计所述第一训练样本集中所有缺陷类别以形成相应的缺陷类别集合;步骤S2,从所述第一训练样本集中选取第一目标训练样本集,并统计所述第一目标训练样本集中所有缺陷类别的个数;步骤S3,判断所述第一目标训练样本集中所有缺陷类别的个数是否等于目标预设数,其中,如果所述第一目标训练样本集中所有缺陷类别的个数大于所述目标预设数,则调转至所述步骤S1,如果所述第一目标训练样本集中所有缺陷类别的个数小于所述目标预设数,则执行步骤S4;步骤S4,从第二训练样本集中随机选取出K个除所述第一目标训练样本集中所有缺陷类别之外的缺陷类别对应的训练样本添加到所述第一目标训练样本集中以获取第二目标训练样本集,其中,所述第二训练样本集为所述第一训练样本集与所述第一目标训练样本集的差集,K为所述目标预设数与所述第一目标训练样本集中所有缺陷类别的个数的差值;步骤S5,采用所述第二目标训练样本集对缺陷检测网络进行训练,以获取相应的缺陷检测模型;步骤S6,重复所述步骤S1至所述步骤S5,以对当前训练完的缺陷检测模型进行多次迭代训练,直至所述缺陷检测模型满足预设条件,并将满足所述预设条件的缺陷检测模型作为目标缺陷检测模型;步骤S7,采用所述目标缺陷检测模型对待检测工件进行缺陷检测。