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一种基于SES的表面污染中金属颗粒含量的测量方法
申请人信息
- 申请人:中国矿业大学
- 申请人地址:221000 江苏省徐州市大学路1号
- 发明人: 中国矿业大学
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种基于SES的表面污染中金属颗粒含量的测量方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410014190.6 |
| 申请日 | 2024/1/5 |
| 公告号 | CN117825355A |
| 公开日 | 2024/4/5 |
| IPC主分类号 | G01N21/65 |
| 权利人 | 中国矿业大学 |
| 发明人 | 郑丽娜; 黄婧; 李佳林; 邹亮; 董映仪; 刘旭彤 |
| 地址 | 江苏省徐州市大学路1号中国矿业大学 |
摘要文本
一种基于SES的表面污染中金属颗粒含量的测量方法，首先提供具有金属颗粒污染浓度的测试板表面；使测试板表面与一个开放面积模板外边缘紧密贴合，使用采样头对该开放面积模板内部区域沉积的金属颗粒进行按压采集；采用SES技术对待测采样头上的金属颗粒含量进行检测，获取金属颗粒的SES信号强度；根据金属颗粒的SES信号强度以及金属颗粒的SES信号强度对应的金属颗粒浓度，拟合定标曲线；基于金属颗粒的SES信号强度和定标曲线，确定测试板表面的金属颗粒浓度。本发明的方法操作过程简单、设备成本低廉，利用采样头中的取样胶带对表面污染中的金属颗粒进行浓缩采集，然后使用SES技术实现金属颗粒的现场快速精确测定。
专利主权项内容
1.一种基于SES的表面污染中金属颗粒含量的测量方法，其特征在于，包括以下步骤：S1：提供具有金属颗粒污染浓度的测试板表面；S2：使测试板表面与一个开放面积模板外边缘紧密贴合，使用采样头对该开放面积模板内部区域沉积的金属颗粒进行按压采集；S3：采用SES技术对待测采样头上的金属颗粒含量进行检测，获取金属颗粒的SES信号强度；S4：根据不同浓度的金属颗粒的SES信号强度以及不同浓度的金属颗粒的SES信号强度对应的金属颗粒浓度，拟合定标曲线；S5：基于步骤S3金属颗粒的SES信号强度和步骤S4的定标曲线，确定测试板表面的金属颗粒浓度。