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一种硅通孔型转接板的芯片封装结构的成形工艺

申请号: CN202410132889.2
申请人: 浙江禾芯集成电路有限公司
更新日期: 2026-03-20

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种硅通孔型转接板的芯片封装结构的成形工艺
专利类型 发明申请
申请号 CN202410132889.2
申请日 2024/1/31
公告号 CN117672876A
公开日 2024/3/8
IPC主分类号 H01L21/50
权利人 浙江禾芯集成电路有限公司
发明人 张黎; 郭洪岩; 张宇锋; 龚嘉明
地址 浙江省嘉兴市嘉善县惠民街道钱塘江路189号H座

摘要文本

本发明公开了一种硅通孔型转接板的芯片封装结构的成形工艺,属于半导体封装技术领域。其工艺过程如下:通过晶圆级工艺制作硅通孔型转接板单体,所述硅通孔型转接板单体的正面设置微转接结构;采用bumping工艺,在载体晶圆的正面制作微金属凸块,其与硅通孔型转接板单体的微转接结构一一对应;硅通孔型转接板单体依次与载体晶圆倒装焊接并塑封,再减薄硅通孔型转接板单体;采用晶圆级扇出工艺在硅通孔型转接板单体上封装若干个芯片,所述芯片为单颗裸芯片或多颗裸芯片;进一步减薄载体晶圆侧;设置BGA焊球II;划片成单体。本发明形成超薄的硅通孔转接板的芯片封装结构,并降低封装结构的翘曲,可以提高封装结构的可靠性。

专利主权项内容

1.一种硅通孔型转接板的芯片封装结构的成形工艺,工艺过程如下,步骤一,通过晶圆级工艺制作硅通孔型转接板单体,所述硅通孔型转接板单体的正面设置微转接结构,所述微转接结构包括微金属柱和其顶端设置的临时焊料层;步骤二,采用bumping工艺,在载体晶圆的正面制作微金属凸块,所述微金属凸块与硅通孔型转接板单体的微转接结构一一对应;步骤三,硅通孔型转接板单体依次与载体晶圆倒装焊接并塑封,再减薄所述硅通孔型转接板单体的背面;步骤四,采用晶圆级扇出工艺在硅通孔型转接板单体上封装若干个芯片,所述芯片为单颗裸芯片或多颗裸芯片,或单组多层堆叠芯片组件,或若干组多层堆叠芯片组件,或裸芯片与多层堆叠芯片的组合;步骤五,进一步减薄载体晶圆侧,露出硅通孔型转接板单体的微金属柱顶端面;步骤六,所述硅通孔型转接板单体的微金属柱顶端面设置BGA焊球II;步骤七,划片成复数颗硅通孔型转接板的芯片封装结构单体。