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一种光学性能测试平台
申请人信息
- 申请人:杭州英诺维科技有限公司; 中国标准化研究院
- 申请人地址:311100 浙江省杭州市余杭区南苑街道余之城2幢1005室
- 发明人: 杭州英诺维科技有限公司; 中国标准化研究院
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种光学性能测试平台 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410205780.7 |
| 申请日 | 2024/2/26 |
| 公告号 | CN117782542A |
| 公开日 | 2024/3/29 |
| IPC主分类号 | G01M11/02 |
| 权利人 | 杭州英诺维科技有限公司; 中国标准化研究院 |
| 发明人 | 李俊凯; 蔡建奇; 许子愉; 曾珊珊; 段延龙; 马耀光 |
| 地址 | 浙江省杭州市余杭区南苑街道余之城2幢1005室; 北京市海淀区知春路4号 |
摘要文本
本发明公开了一种光学性能测试平台，包括测试台以及设置在测试台上的光纤探头和放置台，测试台的顶部设置有摆动定位件，摆动定位件正面的一侧固定连接有光纤探头卡件和光纤探头保护件，本发明涉及光学测试技术领域。该光学性能测试平台，通过摆动定位件、放置台、放置台调节座、竖直限位件、光纤探头和光纤探头卡件的配合设置，在将测试件置于放置台上后，可以实现对测试件不同角度的光学测试，并且配合光纤探头保护件的设置，在光纤探头不使用时，实现对光纤探头的封端保护，同时漏出常开口，通过定位激光发射头为测试件的定位提供便捷参照条件，在测试过程中，进行暗室环境营造，有效避免外界环境对测试件测试结果精度的影响。
专利主权项内容
1.一种光学性能测试平台，包括测试台(1)以及设置在测试台(1)上的光纤探头(2)和放置台(3)，其特征在于：所述测试台(1)的顶部设置有摆动定位件(4)，所述摆动定位件(4)正面的一侧固定连接有光纤探头卡件(5)和光纤探头保护件(6)，所述摆动定位件(4)正面的另一侧转动安装有放置台调试座(7)，且放置台调试座(7)通过竖直限位件(8)与测试台(1)固定连接；所述测试台(1)的顶部还设置有暗箱壳(9)，且摆动定位件(4)、光纤探头卡件(5)、光纤探头保护件(6)、放置台调试座(7)、竖直限位件(8)和放置台(3)均设置在暗箱壳(9)的内部。。微信公众号