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一种锂电池极片露箔缺陷检测方法及装置
申请人信息
- 申请人:浙江双元科技股份有限公司
- 申请人地址:310015 浙江省杭州市拱墅区莫干山路1418-41号2号楼
- 发明人: 浙江双元科技股份有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种锂电池极片露箔缺陷检测方法及装置 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410028864.8 |
| 申请日 | 2024/1/9 |
| 公告号 | CN117541585A |
| 公开日 | 2024/2/9 |
| IPC主分类号 | G06T7/00 |
| 权利人 | 浙江双元科技股份有限公司 |
| 发明人 | 阮永蔚; 吴鹏飞; 王耀阳; 胡美琴 |
| 地址 | 浙江省杭州市拱墅区莫干山路1418-41号2号楼 |
摘要文本
本发明公开了一种锂电池极片露箔缺陷检测方法及装置，方法包括：采集待检测锂电池极片的原始图像；基于DFS算法和顶帽算法对所述原始图像进行去除背景处理，获得去背景图像；基于所述去背景图像查找局部像素极大值点，根据所述局部像素极大值点判断所述去背景图像中是否存在露箔缺陷；对于存在露箔缺陷的去背景图像，根据所述局部像素极大值点，采用DFS算法和递归算法，确定露箔所在矩形区域；该方法能够有效提高锂电池极片露箔检测的准确性。
专利主权项内容
1.一种锂电池极片露箔缺陷检测方法，其特征在于，包括：采集待检测锂电池极片的原始图像；基于DFS算法和顶帽算法对所述原始图像进行去除背景处理，获得去背景图像；基于所述去背景图像查找局部像素极大值点，根据所述局部像素极大值点判断所述去背景图像中是否存在露箔缺陷；对于存在露箔缺陷的去背景图像，根据所述局部像素极大值点，采用DFS算法和递归算法，确定露箔所在矩形区域。