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磁感应断层成像设备

申请号: CN202410049194.8
申请人: 杭州永川科技有限公司
更新日期: 2026-03-20

专利详细信息

项目 内容
专利名称 磁感应断层成像设备
专利类型 发明申请
申请号 CN202410049194.8
申请日 2024/1/12
公告号 CN117547242A
公开日 2024/2/13
IPC主分类号 A61B5/0522
权利人 杭州永川科技有限公司
发明人 刘锐岗; 宣和均; 陈诚; 尤富生
地址 浙江省杭州市滨江区长河街道湖西路575号1幢501室

摘要文本

本申请涉及一种磁感应断层成像设备,其中,发射线圈模块,包括第一发射线圈组和第二发射线圈组;激励模块,用于激励发射线圈模块生成施加到成像目标的主激励场;测量线圈模块,用于基于成像目标的次级磁场,生成测量信号;次级磁场为成像目标基于主激励场生成;处理电路,用于将测量信号传输至成像模块;成像模块,用于根据测量信号,生成成像目标的磁感应断层图像。采用本申请的磁感应断层成像设备对成像目标进行测量成像。由于主激励场平行于测量线圈所在平面,很大程度上削弱了主激励场对次级磁场的测量产生影响,从而提高了测量和成像的准确性。 马 克 团 队

专利主权项内容

1.一种磁感应断层成像设备,其特征在于,所述磁感应断层成像设备包括发射线圈模块、与发射线圈模块相连的激励模块、测量线圈模块、与所述测量线圈模块相连的处理电路以及成像模块;其中,所述发射线圈模块,包括第一发射线圈组和第二发射线圈组;所述激励模块,用于激励所述发射线圈模块生成施加到成像目标的主激励场;所述测量线圈模块,包括预设数量个测量线圈;各测量线圈处于同一预设平面,所述预设平面垂直于所述第一发射线圈中心所处的平面和所述第一发射线圈中心所处的平面;用于基于所述成像目标的次级磁场,生成测量信号;所述次级磁场为所述成像目标基于所述主激励场生成;所述处理电路,用于将所述测量信号传输至所述成像模块;所述成像模块,用于根据所述测量信号,生成所述成像目标的磁感应断层图像。。