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模型缺陷检测方法、模型训练方法、目标检测方法和系统
申请人信息
- 申请人:虹软科技股份有限公司
- 申请人地址:310051 浙江省杭州市滨江区长河街道滨兴路392号(虹软大厦)19楼
- 发明人: 虹软科技股份有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 模型缺陷检测方法、模型训练方法、目标检测方法和系统 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410160313.7 |
| 申请日 | 2024/2/5 |
| 公告号 | CN117710944A |
| 公开日 | 2024/3/15 |
| IPC主分类号 | G06V20/58 |
| 权利人 | 虹软科技股份有限公司 |
| 发明人 | 张永昌; 黄雨航; 邱翰; 王进 |
| 地址 | 浙江省杭州市滨江区长河街道滨兴路392号(虹软大厦)19楼 |
摘要文本
本申请涉及一种模型缺陷检测方法、模型训练方法、目标检测方法和系统，通过获取第一模型对待检测图像进行多次目标检测后生成的第一检测结果；获取第二模型对待检测图像进行目标检测后生成的第二检测结果；将第一检测结果和第二检测结果进行比对，得到第二模型的缺陷检测结果；其中，缺陷检测结果包括误检目标和/或漏检目标；解决了相关技术中存在的模型缺陷缺乏针对性处理的问题，提升了模型缺陷检测的准确率。
专利主权项内容
1.一种模型缺陷检测方法，其特征在于，包括：获取第一模型对待检测图像进行多次目标检测后生成的第一检测结果；获取第二模型对所述待检测图像进行目标检测后生成的第二检测结果；将所述第一检测结果和所述第二检测结果进行比对，得到所述第二模型的缺陷检测结果；其中，所述缺陷检测结果包括误检目标和/或漏检目标。。