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一种瞬时抗高气压的大腔体芯片壳体结构

申请号: CN202420459519.5
申请人: 成都冈秦层拜电子科技有限公司
申请日期: 2024/3/11

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种瞬时抗高气压的大腔体芯片壳体结构
专利类型 实用新型
申请号 CN202420459519.5
申请日 2024/3/11
公告号 CN222106672U
公开日 2024/12/3
IPC主分类号 H01L23/10
权利人 成都方标精密机械制造有限公司
发明人 刘汉达
地址

摘要文本

本实用新型涉及芯片封装结构技术领域,且公开了一种瞬时抗高气压的大腔体芯片壳体结构,包括芯片封装主体、凸台支撑块、边沿安装框、封装盖板、适配槽口和安装片,所述凸台支撑块设置于芯片封装主体的顶部,所述边沿安装框设置于芯片封装主体顶部的边沿处。该实用新型,通过设有边沿安装框,使边沿安装框配合封装盖板安装于模块顶部,使芯片封装主体内部腔体的空间相对较大,凸台支撑块对封装盖板起到辅助支撑效果,防变形防凹凸能力较好,使装置达到在瞬时高压环境中,可避免盖板凹陷对芯片产生损伤,保证产品正常运行。

专利主权项内容

1.一种瞬时抗高气压的大腔体芯片壳体结构,其特征在于:包括芯片封装主体(1)、凸台支撑块(2)、边沿安装框(3)、封装盖板(4)、适配槽口(5)和安装片(6);
所述凸台支撑块(2)设置于芯片封装主体(1)的顶部,所述边沿安装框(3)设置于芯片封装主体(1)顶部的边沿处,所述封装盖板(4)设置于边沿安装框(3)的顶部;
所述凸台支撑块(2)的顶部与封装盖板(4)的底部接触,所述适配槽口(5)设置于边沿安装框(3)内侧的顶部,所述适配槽口(5)与封装盖板(4)卡合匹配,所述安装片(6)设置于芯片封装主体(1)的两侧。