← 返回列表
一种摄像模组多靶面解析力测试设备
申请人信息
- 申请人:湖北三赢兴光电科技股份有限公司
- 申请人地址:437400 湖北省咸宁市通城经济开发区三赢兴科技
- 发明人: 湖北三赢兴光电科技股份有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种摄像模组多靶面解析力测试设备 |
| 专利类型 | 实用新型 |
| 申请号 | CN202420380228.7 |
| 申请日 | 2024/2/29 |
| 公告号 | CN222108030U |
| 公开日 | 2024/12/3 |
| IPC主分类号 | H04N17/00 |
| 权利人 | 湖北三赢兴光电科技股份有限公司 |
| 发明人 | 何其三; 董兢; 王加焱; 曾少华; 王伟东; 覃开华 |
| 地址 | 湖北省咸宁市通城经济开发区三赢兴科技 |
摘要文本
本实用新型属于摄像模组测试技术领域，具体提供了一种摄像模组多靶面解析力测试设备，包括测试组件、X轴轨道、第一升降机构和第二升降机构；所述第一升降机构和所述第二升降机构均滑动安装在所述X轴轨道上；所述第一升降机构上安装有第一调焦光源组件；所述第二升降机构上安装有第二调焦光源组件；所述测试组件的测试区间位于第一调焦光源组件和第二调焦光源组件的行程内。本实用新型提供的这种摄像模组多靶面解析力测试设备可实现X轴和Z轴两个自由度的调整，在同一个测试环境下，同一时间点测试摄像头模组不同焦段时解析力效果，保障并提升FF摄像模组在实际应用中的景深，并缩短制程站位，有效控制制程成本，提高摄像头的测试效率。
专利主权项内容
1.一种摄像模组多靶面解析力测试设备，其特征在于：包括测试组件、X轴轨道(4)、第一升降机构和第二升降机构；所述第一升降机构和所述第二升降机构均滑动安装在所述X轴轨道(4)上；所述第一升降机构上安装有第一调焦光源组件(5)；所述第二升降机构上安装有第二调焦光源组件(8)；所述测试组件的测试区间位于第一调焦光源组件(5)和第二调焦光源组件(8)的行程内。