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一种半导体封装气密性检验装置

申请号: CN202323535305.6
申请人: 河北博威集成电路有限公司
更新日期: 2026-03-28

摘要文本

河北博威集成电路有限公司取得“一种透气窗帘布”专利技术,本实用新型提供了一种半导体封装气密性检验装置,包括壳体、挡板以及打捞器;壳体顶壁开设有避让孔,壳体用于盛放检验半导体封装气密性的检测液;挡板滑动连接于壳体的顶部且具有进出口,在挡板的滑动区间内进出口始终对齐避让孔的部分区域;打捞器包括封挡进出口的盖板,以及与盖板连接并伸入壳体内部的托盘,托盘用于承载待检器件并伸入检测液的液面之下。本实用新型提供的半导体封装气密性检验装置,能够避免检测液挥发浪费,提高检测液利用率,同时有助于提高检测效率。

专利主权项内容

1.一种半导体封装气密性检验装置,其特征在于,包括:
壳体(10),顶壁开设有避让孔(11),所述壳体(10)用于盛放检验半导体封装气密性的检测液;
挡板(20),滑动连接于所述壳体(10)的顶部,且具有进出口(21),在所述挡板(20)的滑动区间内所述进出口(21)始终对齐所述避让孔(11)的部分区域;
打捞器(30),包括封挡所述进出口(21)的盖板(31),以及与所述盖板(31)连接并伸入所述壳体(10)内部的托盘(32),所述托盘(32)用于承载待检器件并伸入所述检测液的液面之下。

专利申请信息

项目 内容
专利名称 一种半导体封装气密性检验装置
专利类型 实用新型
申请号 CN202323535305.6
申请日 2023/12/25
公告号 CN222104968U
公开日 2024/12/3
IPC主分类号 G01M3/02
权利人 河北博威集成电路有限公司
发明人 杨启旋; 要旭; 常农凯; 郭跃伟; 段磊; 崔健
地址 河北省石家庄市鹿泉区开发区昌盛大街21号