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具有夹具的半导体芯片老化测试装置
摘要文本
鲁欧智造(山东)高端装备科技有限公司取得“一种透气窗帘布”专利技术,具有夹具的半导体芯片老化测试装置,涉及测试装置技术领域,包括由上到下并列设置的检测台与支撑台,支撑台上滑动设有两个做相向及相反运动的进给座,两个进给座的相对端面之间分别转动设有夹持座,两个夹持座的相对端面上开设有呈V形设置的夹持槽,检测台上设有半导体检测仪主体,半导体检测仪主体的检测端通过导线连接有若干个连接端头。本实用新型解决了传统技术中的夹具在对半导体器件夹持定位时,易出现加持量过大,导致夹伤半导体器件外壳的现象,影响了老化测试精准性的问题。
专利主权项内容
() (来 自 ) 。1.具有夹具的半导体芯片老化测试装置,其特征在于:包括由上到下并列设置的检测台(2)与支撑台(1),所述支撑台(1)上滑动设有两个做相向及相反运动的进给座(5),两个所述进给座(5)的相对端面之间分别转动设有夹持座(9),两个所述夹持座(9)的相对端面上开设有呈V形设置的夹持槽(10),
所述检测台(2)上设有半导体检测仪主体(17),所述半导体检测仪主体(17)的检测端通过导线(18)连接有若干个连接端头(21)。
专利申请信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 具有夹具的半导体芯片老化测试装置 |
| 专利类型 | 实用新型 |
| 申请号 | CN202420011475.X |
| 申请日 | 2024/1/3 |
| 公告号 | CN222105582U |
| 公开日 | 2024/12/3 |
| IPC主分类号 | G01R31/26 |
| 权利人 | 鲁欧智造(山东)高端装备科技有限公司 |
| 发明人 | 罗亚非 |
| 地址 | 山东省潍坊市潍城区经济开发区工业一街东首195号 |