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具有夹具的半导体芯片老化测试装置

申请号: CN202420011475.X
申请人: 鲁欧智造(山东)高端装备科技有限公司
更新日期: 2026-03-28

摘要文本

鲁欧智造(山东)高端装备科技有限公司取得“一种透气窗帘布”专利技术,具有夹具的半导体芯片老化测试装置,涉及测试装置技术领域,包括由上到下并列设置的检测台与支撑台,支撑台上滑动设有两个做相向及相反运动的进给座,两个进给座的相对端面之间分别转动设有夹持座,两个夹持座的相对端面上开设有呈V形设置的夹持槽,检测台上设有半导体检测仪主体,半导体检测仪主体的检测端通过导线连接有若干个连接端头。本实用新型解决了传统技术中的夹具在对半导体器件夹持定位时,易出现加持量过大,导致夹伤半导体器件外壳的现象,影响了老化测试精准性的问题。

专利主权项内容

() (来 自 ) 。1.具有夹具的半导体芯片老化测试装置,其特征在于:包括由上到下并列设置的检测台(2)与支撑台(1),所述支撑台(1)上滑动设有两个做相向及相反运动的进给座(5),两个所述进给座(5)的相对端面之间分别转动设有夹持座(9),两个所述夹持座(9)的相对端面上开设有呈V形设置的夹持槽(10),
所述检测台(2)上设有半导体检测仪主体(17),所述半导体检测仪主体(17)的检测端通过导线(18)连接有若干个连接端头(21)。

专利申请信息

项目 内容
专利名称 具有夹具的半导体芯片老化测试装置
专利类型 实用新型
申请号 CN202420011475.X
申请日 2024/1/3
公告号 CN222105582U
公开日 2024/12/3
IPC主分类号 G01R31/26
权利人 鲁欧智造(山东)高端装备科技有限公司
发明人 罗亚非
地址 山东省潍坊市潍城区经济开发区工业一街东首195号