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一种用于集成电路芯片的测试装置
申请人信息
- 申请人:深圳市富创源科技有限公司
- 申请人地址:518000 广东省深圳市罗湖区深南东路3016号银都大厦10楼1008室
- 发明人: 深圳市富创源科技有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种用于集成电路芯片的测试装置 |
| 专利类型 | 实用新型 |
| 申请号 | CN202420409998.X |
| 申请日 | 2024/3/4 |
| 公告号 | CN222105592U |
| 公开日 | 2024/12/3 |
| IPC主分类号 | G01R31/28 |
| 权利人 | 深圳市富创源科技有限公司 |
| 发明人 | 胡斌 |
| 地址 | 广东省深圳市罗湖区深南东路3016号银都大厦10楼1008室 |
摘要文本
本实用新型公开一种用于集成电路芯片的测试装置，其包括测试台，所述测试台的顶部栓接有测试架，所述测试架的顶部栓接有测试盒，所述测试盒的顶部设置有盖板，所述测试台的顶部设置有伸缩组件，所述伸缩组件的后侧栓接有吸料机构，所述测试台的顶部栓接有进料架，所述测试台的顶部栓接有退料架，所述测试盒的后侧设置有显示屏组件，解决了现有的测试装置大多是将单个集成电路芯片放置到测试装置的内壁，完成测试后需要将集成电路芯片取出，测试过程较为复杂，较为耗费时间，不便于工作人员进行批量性测试的工作，并且安装拆卸集成电路芯片时，需要耗费一定拆装时间，安装效率较低，不便于使用者使用的问题。
专利主权项内容
1.一种用于集成电路芯片的测试装置，其特征在于，所述用于集成电路芯片的测试装置包括测试台(1)，所述测试台(1)的顶部栓接有测试架(4)，所述测试架(4)的顶部栓接有测试盒(5)，所述测试盒(5)的顶部设置有盖板(6)，所述测试台(1)的顶部设置有伸缩组件(7)，所述伸缩组件(7)的后侧栓接有吸料机构(2)，所述测试台(1)的顶部栓接有进料架(8)，所述测试台(1)的顶部栓接有退料架(9)，所述测试盒(5)的后侧设置有显示屏组件(10)；
吸料机构(2)包括吸料架(201)、吸料杆(202)和吸盘(203)，所述吸盘(203)的顶部与吸料杆(202)的底部固定连通，所述吸料杆(202)的顶部与吸料架(201)的底部栓接，所述吸料架(201)的前侧与伸缩组件(7)的后侧栓接。