← 返回列表
一种基于双芯片架构的显示器测试装置
申请人信息
- 申请人:伯泰克汽车电子(芜湖)有限公司
- 申请人地址:241000 安徽省芜湖市中国(安徽)自由贸易试验区芜湖片区官陡门路88号
- 发明人: 伯泰克汽车电子(芜湖)有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种基于双芯片架构的显示器测试装置 |
| 专利类型 | 实用新型 |
| 申请号 | CN202420666568.6 |
| 申请日 | 2024/4/2 |
| 公告号 | CN222106249U |
| 公开日 | 2024/12/3 |
| IPC主分类号 | G09G3/00 |
| 权利人 | 伯泰克汽车电子(芜湖)有限公司 |
| 发明人 | 左双文; 杜傲达; 钱涛 |
| 地址 | 安徽省芜湖市中国(安徽)自由贸易试验区芜湖片区官陡门路88号 |
摘要文本
本实用新型提出了一种基于双芯片架构的显示器测试装置，属于显示屏测试领域。所述装置包括产线测试设备、测试盒、显示器，所述测试盒分别与所述产线测试设备、显示器连接，其中：所述测试盒包括第一控制芯片、第二控制芯片、串行器，所述第一控制芯片分别与所述产线测试设备、第二控制芯片、串行器连接；所述第二控制芯片与所述串行器连接；所述串行器与所述显示器连接。本实用新型提高了显示器测试数据处理能力、可以自定义测试画面、实现I2C通讯、实现显示器多种功能测试，从而提高显示器测试准确性，提高生产质量。
专利主权项内容
1.一种基于双芯片架构的显示器测试装置，其特征在于：所述装置包括产线测试设备、测试盒、显示器，所述测试盒分别与所述产线测试设备、显示器连接，其中：所述测试盒包括第一控制芯片、第二控制芯片、串行器，所述第一控制芯片分别与所述产线测试设备、第二控制芯片、串行器连接；所述第二控制芯片与所述串行器连接；所述串行器与所述显示器连接。