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等离子体-质谱分析系统及其工作方法
申请人信息
- 申请人:杭州谱育科技发展有限公司
- 申请人地址:310052 浙江省杭州市滨江区滨安路760号1号楼B座403室
- 发明人: 杭州谱育科技发展有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 等离子体-质谱分析系统及其工作方法 |
| 专利类型 | 发明授权 |
| 申请号 | CN201711490627.X |
| 申请日 | 2017年12月30日 |
| 公告号 | CN108152358B |
| 公开日 | 2024年2月2日 |
| IPC主分类号 | G01N27/626 |
| 权利人 | 杭州谱育科技发展有限公司 |
| 发明人 | 俞晓峰; 韩双来; 梁炎; 徐岳 |
| 地址 | 浙江省杭州市临安区青山湖街道科技大道2466-1号 |
摘要文本
本发明提供了一种等离子体‑质谱分析系统及其工作方法，所述等离子体‑质谱分析系统包括质谱分析仪、真空单元；炬管的出口竖直向上；取样锥，所述取样锥设置在所述炬管的离子出射方向上；第一阀门设置在所述离子出射方向上，且处于所述取样锥的下游；离子偏转单元设置在离子出射方向上，且处于第一阀门的下游，经过所述离子偏转单元后，离子偏转角度α；第二阀门设置在经过所述离子偏转单元偏转后的离子方向上。本发明具有检测精度高等优点。
专利主权项内容
1.一种提高使用寿命的等离子体-质谱分析系统，所述等离子体-质谱分析系统包括质谱分析仪；其特征在于：所述等离子体-质谱分析系统进一步包括：炬管，所述炬管的出口竖直向上；取样锥，所述取样锥设置在所述炬管的离子出射方向上；第一阀门，所述第一阀门设置在所述离子出射方向上，且处于所述取样锥的下游；离子偏转单元，所述离子偏转单元设置在离子出射方向上，且处于第一阀门的下游，经过所述离子偏转单元后，离子偏转角度α；第二阀门，所述第二阀门设置在经过所述离子偏转单元偏转后的离子方向上。