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检漏装置

申请号: CN202420231968.4
申请人: 上海华力微电子有限公司
更新日期: 2026-04-07

专利详细信息

项目 内容
专利名称 检漏装置
专利类型 实用新型
申请号 CN202420231968.4
申请日 2024/1/30
公告号 CN222087241U
公开日 2024/11/29
IPC主分类号 G01M3/22
权利人 上海华力微电子有限公司
发明人 赵骏; 张德伟; 汤介峰; 荆泉; 陈力均
地址 上海市浦东新区良腾路6号

摘要文本

上海华力微电子有限公司取得“一种透气窗帘布”专利技术,本实用新型涉及半导体制造技术领域,尤其涉及一种检漏装置,用于对工艺腔体的内部阀件进行检漏,所述内部阀件与一进气管路连接并通过所述进气管路进行驱动,所述检漏装置包括氦质谱检漏仪、氦气源及氦气管路,所述氦气管路的进气口与所述氦气源连接,所述氦气管路的出气口与所述进气管路连接,所述氦质谱检漏仪与所述工艺腔体连通。通过启用所述氦气源,由所述氦气管路向所述内部阀件通入氦气,若所述氦质谱检漏仪检测到所述工艺腔体内存在氦气,则说明所述内部阀件存在泄露的情况。如此一来,能够极大地节约腔体漏点的检测时间,提高检测效率。此外,所述氦气管路只需对现有进气管路进行简单改造即可接入,操作方便,实用性强。

专利主权项内容

1.一种检漏装置,用于对工艺腔体的内部阀件进行检漏,所述内部阀件与一进气管路连接并通过所述进气管路进行驱动,其特征在于,所述检漏装置包括氦质谱检漏仪、氦气源及氦气管路,所述氦气管路的进气口与所述氦气源连接,所述氦气管路的出气口与所述进气管路连接,所述氦质谱检漏仪与所述工艺腔体连通。