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前端组件样式校验方法、装置、电子设备及存储介质
摘要文本
本公开提供了一种前端组件样式校验方法、装置、电子设备及存储介质，涉及计算机前端技术领域。该方法包括获取目标组件样式；判断所述目标组件样式与历史样式是否存在样式污染；若存在样式污染，根据所述历史样式对所述目标组件样式编译，将编译后的目标组件样式提交到代码仓库。本公开通过对新提交的组件样式与历史样式的参数进行校验、编译，实现新提交的组件样式与历史样式的统一样式，能够解决新提交组件样式文件引起样式污染的问题。
申请人信息
- 申请人:中国电信股份有限公司技术创新中心; 中国电信股份有限公司
- 申请人地址:102209 北京市昌平区北七家镇未来科技城南区中国电信北京信息科技创新园11层1118室、1116室
- 发明人: 中国电信股份有限公司技术创新中心; 中国电信股份有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 前端组件样式校验方法、装置、电子设备及存储介质 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311767815.8 |
| 申请日 | 2023/12/20 |
| 公告号 | CN117519726A |
| 公开日 | 2024/2/6 |
| IPC主分类号 | G06F8/41 |
| 权利人 | 中国电信股份有限公司技术创新中心; 中国电信股份有限公司 |
| 发明人 | 李嵩田; 耿勇杰; 华竹轩; 薛盛; 王广为 |
| 地址 | 北京市昌平区北七家镇未来科技城南区中国电信北京信息科技创新园11层1118室、1116室; 北京市西城区金融大街31号 |
专利主权项内容
1.一种前端组件样式校验方法，其特征在于，包括：获取目标组件样式；判断所述目标组件样式与历史样式是否存在样式污染；若存在样式污染，根据所述历史样式对所述目标组件样式编译，将编译后的目标组件样式提交到代码仓库。