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基于SPDK的后端存储测试方法、装置及介质
摘要文本
本公开涉及一种基于SPDK的后端存储测试方法、装置及介质，方法包括：在Target端创建与目标后端存储场景相对应的目标服务和第一后端存储；将第一后端存储的文件名加入到预设的存储位置中；在SoC端设置第二后端存储，创建操作接口，以及启动NVMe子系统；在Host端加载NVMe驱动，Host端通过Target端拉取NVMe磁盘；对NVMe磁盘进行测试。本公开能够通过SPDK实现不同后端存储，关于高吞吐、低延时和高可靠性的数据传输等多方面的测试，提高不同存储系统在实际场景下的稳定性和高性能。
申请人信息
- 申请人:中科驭数(北京)科技有限公司
- 申请人地址:100094 北京市海淀区北清路81号院一区4号楼14层1401室
- 发明人: 中科驭数(北京)科技有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 基于SPDK的后端存储测试方法、装置及介质 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311861552.7 |
| 申请日 | 2023/12/29 |
| 公告号 | CN117667552A |
| 公开日 | 2024/3/8 |
| IPC主分类号 | G06F11/22 |
| 权利人 | 中科驭数(北京)科技有限公司 |
| 发明人 | 孙国峰 |
| 地址 | 北京市海淀区北清路81号院一区4号楼14层1401室 |
专利主权项内容
1.一种基于存储性能开发工具包SPDK的后端存储测试方法，其特征在于，所述方法包括：在磁盘阵列Target端创建与目标后端存储场景相对应的目标服务和第一后端存储；将所述第一后端存储的文件名加入到预设的存储位置中；在系统级芯片SoC端设置第二后端存储，创建操作接口，以及启动非易失性内存主机控制器接口规范NVMe子系统；在主机Host端加载NVMe驱动，所述Host端通过所述Target端拉取NVMe磁盘；对所述NVMe磁盘的测试项目进行测试；其中，所述测试项目包括：NVMe性能、可靠性、集群配置和数据完整性。