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绝缘子串的缺陷检测方法、系统、终端及存储介质
摘要文本
本发明提供一种绝缘子串的缺陷检测方法、系统、终端及存储介质。该方法包括：取绝缘子串的图像；将图像进行不同层次的特征提取，得到第一特征；对第一特征进行特征融合处理，得到多个第二特征；对第二特征中的第一预设数量的相邻特征进行特征融合和特征增强，得到第三特征；基于第三特征进行缺陷检测，得到检测结果。本发明能够通过特征融合处理，提取不同层次的特征，然后通过特征融合和特征增强突出显著目标通道并抑制其它干扰通道，从而可以在降低计算量的情况下，提高有缺陷绝缘子串的识别准确度。
申请人信息
- 申请人:国网电力空间技术有限公司; 国网智能电网研究院有限公司
- 申请人地址:102209 北京市昌平区未来科技城滨河大道18号
- 发明人: 国网电力空间技术有限公司; 国网智能电网研究院有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 绝缘子串的缺陷检测方法、系统、终端及存储介质 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311766929.0 |
| 申请日 | 2023/12/20 |
| 公告号 | CN117745677A |
| 公开日 | 2024/3/22 |
| IPC主分类号 | G06T7/00 |
| 权利人 | 国网电力空间技术有限公司; 国网智能电网研究院有限公司 |
| 发明人 | 刘宁; 白云灿; 郭峻菘; 刘伟东; 武艺; 徐文瀚; 孔令宇; 沈建; 高鹏飞; 周立存; 马春田; 杨国柱; 杨丰恺; 刘成强; 李帅 |
| 地址 | 北京市昌平区未来科技城滨河大道18号; 北京市昌平区未来科技城滨河大道18号 |
专利主权项内容
1.一种绝缘子串的缺陷检测方法，其特征在于，包括：获取绝缘子串的图像；将所述图像进行不同层次的特征提取，得到第一特征；对所述第一特征进行特征融合处理，得到多个第二特征；对所述第二特征中的第一预设数量的相邻特征进行特征融合和特征增强，得到第三特征；基于所述第三特征进行缺陷检测，得到检测结果。