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一种基于质谱仪的优化处理方法、装置、设备及介质
摘要文本
本申请提供一种基于质谱仪的优化处理方法、装置、设备及介质,该方法包括:获取待优化质谱仪的场半径,并根据所述场半径,确定所述待优化质谱仪的计算域;利用控制变量法,确定所述计算域的网格单元参数,并根据所述网格单元参数对所述计算域进行划分处理;获取所述计算域中每个网格单元的模拟方程并进行模拟计算,以获取所述待优化质谱仪的离子通过率,并根据所述离子通过率对所述待优化质谱仪的仪器参数进行优化处理。解决了现有技术中的网格可控性弱,计算耗时长,计算精度和稳定性较差的问题,能够更好地对质谱仪进行优化设计。
申请人信息
- 申请人:中国计量科学研究院
- 申请人地址:100029 北京市朝阳区北三环东路18号
- 发明人: 中国计量科学研究院
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种基于质谱仪的优化处理方法、装置、设备及介质 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311651249.4 |
| 申请日 | 2023/12/4 |
| 公告号 | CN117574744A |
| 公开日 | 2024/2/20 |
| IPC主分类号 | G06F30/25 |
| 权利人 | 中国计量科学研究院 |
| 发明人 | 杨丽娜; 熊行创; 方向; 刘震; 何文魁 |
| 地址 | 北京市朝阳区北三环东路18号 |
专利主权项内容
1.一种基于质谱仪的优化处理方法,其特征在于,包括:获取待优化质谱仪的场半径,并根据所述场半径,确定所述待优化质谱仪的计算域;利用控制变量法,确定所述计算域的网格单元参数,并根据所述网格单元参数对所述计算域进行划分处理;获取所述计算域中每个网格单元的模拟方程并进行模拟计算,以获取所述待优化质谱仪的离子通过率,并根据所述离子通过率对所述待优化质谱仪的仪器参数进行优化处理。