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基于标准物质的近红外光谱校准方法、系统、装置及介质
摘要文本
本发明提供基于标准物质的近红外光谱校准方法、系统、装置及介质，包括：获得环境变化前后标准物质的变化前和变化后标准近红外光谱图；对变化前和变化后标准近红外光谱图按照横坐标划成多个区域；根据变化前和变化后标准近红外光谱图在各区域变化获得各区域修正参数值；获得待测样品初始近红外光谱图，对初始近红外光谱图进行相同区域划分；按区域通过对应的修正参数值矫正初始近红外光谱图；矫正后近红外光谱图导入测量模型得到测量值。本发明通过标准物质的近红外光谱变化体现环境变动，并以此为基础获得校正参数，实现分区域校正，准确反映了不同环境下环境因素对光谱数据的影响。
申请人信息
- 申请人:中国计量科学研究院; 北京易兴元石化科技有限公司
- 申请人地址:100029 北京市朝阳区北三环东路18号
- 发明人: 中国计量科学研究院; 北京易兴元石化科技有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 基于标准物质的近红外光谱校准方法、系统、装置及介质 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311529497.1 |
| 申请日 | 2023/11/16 |
| 公告号 | CN117554327A |
| 公开日 | 2024/2/13 |
| IPC主分类号 | G01N21/359 |
| 权利人 | 中国计量科学研究院; 北京易兴元石化科技有限公司 |
| 发明人 | 李轲; 张正东; 杜彪; 周玉山; 王家民; 李琪; 龚丽; 郝璐; 徐晓雯; 刘帆; 张鑫 |
| 地址 | 北京市朝阳区北三环东路18号; 北京市顺义区京密路牛山段4号区18幢101号 |
专利主权项内容
1.一种基于标准物质的近红外光谱校准方法，其特征在于，包括：获得环境变化前后的标准物质的变化前标准近红外光谱图和变化后标准近红外光谱图；对变化前标准近红外光谱图和变化后标准近红外光谱图按照横坐标划分成多个区域；根据变化前标准近红外光谱图和变化后标准近红外光谱图在各区域的变化获得各区域的修正参数值；获得待测样品的初始近红外光谱图，并对初始近红外光谱图划分成与标准物质对应的变化前标准近红外光谱图和变化后标准近红外光谱图相同的多个区域；将初始近红外光谱图按照区域通过对应的修正参数值进行矫正，获得矫正后近红外光谱图；将待测样品的矫正后近红外光谱图导入测量模型，得到待测样品的测量值，所述测量模型输入为矫正后近红外光谱图的横坐标和纵坐标，输出为测量指标，所述测量指标包括运动黏度、冰点、闪点、密度和馏程中的一个或多个。。数据由马 克 数 据整理