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一种半自动测量足细胞足突形态学参数的方法

申请号: CN202311655020.8
申请人: 中日友好医院(中日友好临床医学研究所)
申请日期: 2023/12/5

摘要文本

本发明提供了一种半自动测量足细胞足突形态学参数的方法,涉及组织荧光染色和成像技术领域。本发明中所述足突形态学参数包括足突宽度、足突周长、足突面积;所述半自动测量方法包括图像采集、图像重构、足突宽度测量、足突周长/面积的测量。本发明的方法进行足细胞足突免疫染色,抗体渗透性和特异性均较好,允许抗体渗透到细胞内从而标记足细胞的足突,能够显示足细胞足突的形态结构和病理形态改变,为足细胞超微形态的研究提供新的技术手段,为临床上病理医师及肾内科医生进行患者个体化诊断、治疗和判断预后提供更加充足的证据。

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种半自动测量足细胞足突形态学参数的方法
专利类型 发明申请
申请号 CN202311655020.8
申请日 2023/12/5
公告号 CN117629711A
公开日 2024/3/1
IPC主分类号 G01N1/28
权利人 中日友好医院(中日友好临床医学研究所)
发明人 李文歌; 刘晓静
地址 北京市朝阳区樱花园东街2号

专利主权项内容

1.一种半自动测量足细胞足突形态学参数的方法,其特征在于,所述足突形态学参数包括足突宽度、足突周长、足突面积;所述方法为非诊断目的;所述方法包括如下步骤:图像采集:制备足细胞免疫荧光染色切片,对所述免疫荧光染色切片进行结构光照明成像;图像重构:拍摄成像后的图像,调整参数进行三维超分辨高保真重构;足突宽度测量:在重构后的3D-SIM图像上,使用开源软件FIJI,对成像的单个足突的腰部进行画线,之后通过spiky插件对plot profile曲线进行高斯拟合,通过find peaks插件找到画线部位足突的波峰和波谷,最后通过高斯拟合后的曲线测量半高全宽即得该足突的宽度;足突周长/面积的测量:在重构后的3D-SIM图像上,使用开源软件FIJI,将图像变为8-bit,而后对图像进行二值化处理,通过调整threshold的灰度选择阈值,选取所有足突部位,在set measurements中选择对应参数,通过插件analyze particles测量以上参数,读取具体数值。