← 返回列表
一种验证计划辅助编辑方法、电子设备及存储介质
摘要文本
本发明涉及芯片验证领域，特别是涉及一种验证计划辅助编辑方法、电子设备及存储介质，其通过获取可视化的表格编辑区中验证计划的层次结构；提取层次结构中的id和pid，在富文本编辑区中根据id和pid生成分层标题结构；获取验证计划的规范文档spec；获取标题对应的id和在指定标题下的预设位置添加的验证点的设计规范，将指定标题的id和添加的验证点设计规范绑定，得到验证计划的辅助文本；当用户在表格编辑区指定验证点时，获取验证点的唯一标识id；根据id查询验证计划的辅助文本获取验证点绑定的目标验证点的设计规范，并在富文本编辑区中显示目标验证点的设计规范，简化用户的操作步骤，提高了查看验证点设计规范的效率。
申请人信息
- 申请人:北京云枢创新软件技术有限公司; 上海合见工业软件集团有限公司; 成都融见软件科技有限公司
- 申请人地址:100193 北京市海淀区东北旺北京中关村软件园孵化器1号楼B、C座二层1221室
- 发明人: 北京云枢创新软件技术有限公司; 上海合见工业软件集团有限公司; 成都融见软件科技有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种验证计划辅助编辑方法、电子设备及存储介质 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311274504.8 |
| 申请日 | 2023/9/28 |
| 公告号 | CN117332760A |
| 公开日 | 2024/1/2 |
| IPC主分类号 | G06F40/166 |
| 权利人 | 北京云枢创新软件技术有限公司; 上海合见工业软件集团有限公司; 成都融见软件科技有限公司 |
| 发明人 | 汤杰; 高波; 金俏慧 |
| 地址 | 北京市海淀区东北旺北京中关村软件园孵化器1号楼B、C座二层1221室; 上海市浦东新区友诚路149号SK大厦29层; 四川省成都市中国(四川)自由贸易试验区成都高新区吉泰二路266号18栋1单元6楼602号 |
专利主权项内容
1.一种验证计划辅助编辑方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：T100，获取可视化的表格编辑区中验证计划的层次结构，所述层次结构中每个验证点具有唯一标识id以及验证点父节点的唯一标识pid；T200，提取验证计划的层次结构中每个验证点的唯一标识id以及验证点父节点的唯一标识pid，在富文本编辑区中根据id和pid生成分层标题结构；T300，获取验证计划的规范文档spec，所述规范文档spec中包括所有验证点的设计规范；T400，获取标题对应的唯一标识id和在指定标题下的预设位置添加的验证点的设计规范，将指定标题的唯一标识id和添加的验证点设计规范绑定，得到验证计划的辅助文本；T500，当用户在表格编辑区指定验证点时，获取验证点的唯一标识id；根据验证点的唯一标识id查询验证计划的辅助文本获取验证点绑定的目标验证点的设计规范，并在富文本编辑区中显示目标验证点的设计规范。