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一种地表基质钻探取样装置

申请号: CN202311685594.X
申请人: 中国地质大学(北京)
申请日期: 2023/12/8

摘要文本

本发明公开一种地表基质钻探取样装置,包括控制器、数显水平仪、作业平台、第一调整器、第二调整器和钻机,作业平台开设作业口,第一调整器设置于作业平台的其中一侧,第一调整器驱动连接钻机,钻机的输出端穿过作业口;第二调整器和数显水平仪均设置于作业平台;控制器分别电连接数显水平仪、第一调整器、第二调整器和钻机,数显水平仪用于检测作业平台的水平度并发送至控制器。本发明提出技术方案中第二调整器将作业平台调整至水平状态,第一调整器再根据取样点的位置准确调整钻机位置,以使钻机可以快速的在斜坡或不规则区域调整至竖向状态,并对取样点进行钻探取样,有效的提高了作业效率。

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种地表基质钻探取样装置
专利类型 发明申请
申请号 CN202311685594.X
申请日 2023/12/8
公告号 CN117449844A
公开日 2024/1/26
IPC主分类号 E21B49/02
权利人 中国地质大学(北京)
发明人 郝玉恒; 王杰; 霍志涛; 蔡隽; 潘德元; 贺前平; 方国庆
地址 北京市海淀区学院路29号

专利主权项内容

1.一种地表基质钻探取样装置,其特征在于,包括控制器、数显水平仪、作业平台、第一调整器、第二调整器和钻机,所述作业平台开设作业口,所述第一调整器设置于所述作业平台的其中一侧,所述第一调整器驱动连接所述钻机,所述钻机的输出端穿过所述作业口,所述第一调整器用于沿所述作业平台设置所述第一调整器的一侧调整所述钻机的水平位置,以使所述钻机通过所述作业口进行钻探取样;所述第二调整器和所述数显水平仪均设置于所述作业平台,所述第二调整器的输出端用于向所述作业平台背离所述第一调整器的一侧支撑地面,以使所述作业平台水平设置;所述控制器分别电连接所述数显水平仪、所述第一调整器、所述第二调整器和所述钻机,所述数显水平仪用于检测所述作业平台的水平度并发送至所述控制器;所述控制器用于获取待取样点位置的坡度,再根据水平度和坡度分别控制所述第二调整器调整所述作业平台,以使所述作业平台水平设置;所述控制器还用于在所述作业平台水平后,分别控制所述第一调整器和所述钻机,以使所述第一调整器驱动所述钻机移动于取样点进行钻探取样。