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一种科氏质量流量计的品质因数获取方法及系统
摘要文本
一种科氏质量流量计的品质因数获取方法及系统，涉及仪器仪表技术领域。方法应用于科氏质量流量计的品质因数获取装置中的工作站中，装置包括激光测距仪、操作台、被测科氏质量流量计以及工作站，通过采集被测科氏质量流量计的位移响应数据，利用位移响应数据替代时域法的瞬态响应的峰值或者幅值包络，以简化测量过程；再通过对振动频率进行预处理，得到幅频曲线，再由幅频曲线可提取被测科氏质量流量计的固有频率，此时无需记录和处理较多的幅频响应数据即可得到固有频率，提升了固有频率的测量效率；最后通过固有频率对应的幅频曲线计算得到被测科氏质量流量计的品质因数，该过程无需进行扫频，从而实现了品质因数的在线测量，提升了测量效率。 微信公众号马克 数据网
申请人信息
- 申请人:北京首科实华自动化设备有限公司
- 申请人地址:100089 北京市海淀区高里掌路3号院8号楼2单元201
- 发明人: 北京首科实华自动化设备有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种科氏质量流量计的品质因数获取方法及系统 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311457466.X |
| 申请日 | 2023/11/3 |
| 公告号 | CN117490807A |
| 公开日 | 2024/2/2 |
| IPC主分类号 | G01F25/10 |
| 权利人 | 北京首科实华自动化设备有限公司 |
| 发明人 | 何静; 明亮; 潘涤平; 李超; 许刚 |
| 地址 | 北京市海淀区高里掌路3号院8号楼2单元201 |
专利主权项内容
1.一种科氏质量流量计的品质因数获取方法，其特征在于，所述方法应用于科氏质量流量计的品质因数获取装置中的工作站(1)中，所述装置包括激光测距仪(2)、操作台(3)、被测科氏质量流量计(4)以及工作站(1)，所述方法包括：采集所述被测科氏质量流量计(4)的位移响应数据；对所述位移响应数据进行预处理，得到所述被测科氏质量流量计(4)的幅频曲线；提取所述幅频曲线的多个峰值幅度；基于多个所述峰值幅度，采用倍增法计算得到所述被测科氏质量流量计(4)的固有频率；从所述被测科氏质量流量计(4)的幅频曲线中截取所述固有频率对应的幅频曲线；基于所述固有频率对应的幅频曲线，采用幅频曲线半功率带宽法计算得到所述被测科氏质量流量计(4)的品质因数。。百度搜索马 克 数 据 网