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基于时序信息分析产生毛刺信号的方法、电子设备和介质
摘要文本
本发明涉及芯片技术领域，尤其涉及一种基于时序信息分析产生毛刺信号的方法、电子设备和介质，包括步骤B1、在RTL仿真阶段，生成预设数据库中；步骤B2、获取待分析毛刺信号信息{(U, T, X1, R1), (U, T, X2, R2)}；步骤B3、基于设计源代码和所述预设数据库获取(U, T, X1, R1)对应的驱动U在T时刻发生第一次信号值变化的目标驱动源码SU1，以及(U, T, X2, R2)对应的驱动U在T时刻发生第二次信号值变化的目标驱动源码SU2；步骤B4、若SU1和SU2不相同，则将SU1和SU2确定为产生毛刺信号的问题源码。本发明能够快速准确确定产生毛刺信号的问题源码。
申请人信息
- 申请人:北京云枢创新软件技术有限公司; 上海合见工业软件集团有限公司; 成都融见软件科技有限公司
- 申请人地址:100193 北京市海淀区东北旺北京中关村软件园孵化器1号楼B、C座二层1221室
- 发明人: 北京云枢创新软件技术有限公司; 上海合见工业软件集团有限公司; 成都融见软件科技有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 基于时序信息分析产生毛刺信号的方法、电子设备和介质 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311418606.2 |
| 申请日 | 2023/10/30 |
| 公告号 | CN117371365A |
| 公开日 | 2024/1/9 |
| IPC主分类号 | G06F30/327 |
| 权利人 | 北京云枢创新软件技术有限公司; 上海合见工业软件集团有限公司; 成都融见软件科技有限公司 |
| 发明人 | 王志峰; 郑丽英; 张邦全 |
| 地址 | 北京市海淀区东北旺北京中关村软件园孵化器1号楼B、C座二层1221室; 上海市浦东新区友诚路149号SK大厦29层; 四川省成都市中国(四川)自由贸易试验区成都高新区吉泰二路266号18栋1单元6楼602号 |
专利主权项内容
1.一种基于时序信息分析产生毛刺信号的方法，其特征在于，包括：步骤B1、在RTL仿真阶段，生成信号值变化记录，将所述信号值变化记录存储至预设数据库中，所述信号值变化记录包括信号标识字段、当前时刻字段、变化后信号值字段和信号值变化时序字段；步骤B2、获取待分析毛刺信号信息{(U, T, X, R), (U, T, X, R)}，其中，U为待分析毛刺信号标识，T为待分析毛刺信号产生的时刻值，X为U在T时刻第一次发生信号值变化后的信号值，R为U在T时刻第一次发生信号值变化的时序值，X为U在T时刻第二次发生信号值变化后的信号值，R为U在T时刻第二次发生信号值变化的时序值；11221122步骤B3、基于设计源代码和所述预设数据库获取(U, T, X, R)对应的驱动U在T时刻发生第一次信号值变化的目标驱动源码SU，以及(U, T, X, R)对应的驱动U在T时刻发生第二次信号值变化的目标驱动源码SU；111222步骤B4、若SU和SU不相同，则将SU和SU确定为产生毛刺信号的问题源码。1212