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一种正样本采样方法、系统、存储介质和电子设备
摘要文本
本发明涉及图像处理技术领域，具体公开一种正样本采样方法、系统、存储介质和电子设备，所述方法包括：获取每个目标正样本图像中的至少一个第一局部图像以及每个待比对图像中的至少一个第二局部图像；其中，所有的第一局部图像和所有的第二局部图像均为目标类别的图像；计算每个第二局部图像分别与所有的第一局部图像之间的特征相似度平均值，并根据每个第二局部图像对应的特征相似度平均值的大小进行正样本采样。本发明能够平衡正样本的采样比例，消除错误标注对模型训练的影响，在节约人工成本的同时，还能提升模型的检测性能。 来自马-克-数-据-官网
申请人信息
- 申请人:北京卓视智通科技有限责任公司
- 申请人地址:100085 北京市海淀区西三旗昌临813号10号楼1层1002
- 发明人: 北京卓视智通科技有限责任公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种正样本采样方法、系统、存储介质和电子设备 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311321670.9 |
| 申请日 | 2023/10/12 |
| 公告号 | CN117351240A |
| 公开日 | 2024/1/5 |
| IPC主分类号 | G06V10/74 |
| 权利人 | 北京卓视智通科技有限责任公司 |
| 发明人 | 朱小平; 刘辉; 延瑾瑜; 吴柯维; 何晓罡 |
| 地址 | 北京市海淀区西三旗昌临813号10号楼1层1002 |
专利主权项内容
1.一种正样本采样方法，其特征在于，包括：获取每个目标正样本图像中的至少一个第一局部图像以及每个待比对图像中的至少一个第二局部图像；其中，所有的第一局部图像和所有的第二局部图像均为目标类别的图像；计算每个第二局部图像分别与所有的第一局部图像之间的特征相似度平均值，并根据每个第二局部图像对应的特征相似度平均值的大小进行正样本采样。