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一种基准辐射观测数据处理方法和系统

申请号: CN202311842423.3
申请人: 北京华云东方探测技术有限公司
申请日期: 2023/12/29

摘要文本

本发明涉及一种基准辐射观测数据处理方法和系统,该方法包括:获取原始基准辐射观测数据;对所述原始基准辐射观测数据进行预处理;基于质控规则,对预处理后的数据进行一级运算,获得符合质控规则的目标质控项;按照所述质控规则对所述目标质控项进行数据质控的二级运算,其中,所述二级运算包括所述目标质控项进行数据帧格式和时间一致性的检测质控;剔除不合格的质控数据,并将合格的质控数据输出至数据中心。本发明避免了多种辐射观测数据中异常数据的出现,所以,采用本发明提供的方法,可以生成优质观测数据,排除设备采集时被干扰所产生的异常情况,并保证数据精度,为后期处理、分析基准辐射观测数据提供支撑。

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种基准辐射观测数据处理方法和系统
专利类型 发明申请
申请号 CN202311842423.3
申请日 2023/12/29
公告号 CN117493755A
公开日 2024/2/2
IPC主分类号 G06F17/18
权利人 北京华云东方探测技术有限公司
发明人 任杰; 刘银锋; 李仁鑫; 巩娜; 吴群; 冯兆飞; 杨宝刚; 李济海; 张利利; 张成
地址 北京市海淀区中关村南大街46号院南区24号楼二层209室

专利主权项内容

1.一种基准辐射观测数据处理方法,其特征在于,包括:获取原始基准辐射观测数据,其中,所述原始基准辐射观测数据包括总辐射、散射辐射、直接辐射、反射辐射、大气长波辐射、地面长波辐射、净全辐射、紫外辐射A、紫外辐射B及光合有效辐射的辐射数据;对所述原始基准辐射观测数据进行预处理;对预处理后的数据进行一级运算,获得符合质控规则的目标质控项;按照所述质控规则对所述目标质控项进行数据质控的二级运算,其中,所述二级运算包括所述目标质控项进行数据帧格式和时间一致性的检测质控;剔除不合格的质控数据,并将合格的质控数据输出至数据中心。