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一种芯片扫描链测试方法及装置、电子设备、存储介质
摘要文本
本发明实施例公开一种芯片扫描链测试方法及装置、电子设备、存储介质，涉及集成电路技术领域，能够有效缩短扫描链测试所需的测试时间。所述方法包括：获取待测芯片的引脚组别信息，引脚组别信息用于根据预设分组规则，将待测芯片中与测试相关的目标引脚，划分为至少两个引脚组；目标引脚包括用于对待测芯片中的扫描寄存器进行配置的引脚；根据引脚组别信息，分别以预设的测试频率向各所述目标引脚提供对应的测试信号，以对待测芯片进行扫描链测试，其中，同一引脚组中各所述目标引脚对应的测试信号具有相同的测试频率，不同引脚组中各目标引脚对应的测试信号具有不同的测试频率。本发明适用于集成电路测试中。 更多数据：
申请人信息
- 申请人:海光集成电路设计(北京)有限公司
- 申请人地址:100193 北京市海淀区东北旺西路8号中关村软件园一期27号楼C座5层501
- 发明人: 海光集成电路设计(北京)有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种芯片扫描链测试方法及装置、电子设备、存储介质 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311475215.4 |
| 申请日 | 2023/11/7 |
| 公告号 | CN117517938A |
| 公开日 | 2024/2/6 |
| IPC主分类号 | G01R31/3185 |
| 权利人 | 海光集成电路设计(北京)有限公司 |
| 发明人 | 成学娇; 林耀坤; 吴义桂 |
| 地址 | 北京市海淀区东北旺西路8号中关村软件园一期27号楼C座5层501 |
专利主权项内容
数据由马 克 数 据整理 1.一种芯片扫描链测试方法，其特征在于，包括：获取待测芯片的引脚组别信息，所述引脚组别信息用于根据预设分组规则，将所述待测芯片中与测试相关的目标引脚，划分为至少两个引脚组；所述目标引脚包括用于对所述待测芯片中的扫描寄存器进行配置的引脚；根据所述引脚组别信息，分别以预设的测试频率向各所述目标引脚提供对应的测试信号，以对所述待测芯片进行扫描链测试，其中，同一引脚组中各所述目标引脚对应的测试信号具有相同的所述测试频率，不同引脚组中各所述目标引脚对应的测试信号具有不同的所述测试频率。