← 返回列表
用于磁条卡时间序列的分析方法及装置、刷卡机
摘要文本
本申请涉及磁条卡解码技术领域，公开一种用于磁条卡时间序列的分析方法，包括：对磁条卡刷卡生成的时间序列进行周期分析处理，生成周期序列；对周期序列进行周期预测，获得目标周期预测值；根据目标周期预测值，对时间序列进行数据位判定，获得磁条卡磁道的数据位。该方法能够提升磁条卡磁道数据位判定的准确性。本申请还公开一种用于磁条卡时间序列的分析装置及刷卡机。。专利查询网
申请人信息
- 申请人:北京紫光青藤微系统有限公司
- 申请人地址:100000 北京市海淀区西小口路66号中关村东升科技园·北领地B-1楼4层401
- 发明人: 北京紫光青藤微系统有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 用于磁条卡时间序列的分析方法及装置、刷卡机 |
| 专利类型 | 发明授权 |
| 申请号 | CN202311652394.4 |
| 申请日 | 2023/12/5 |
| 公告号 | CN117349632B |
| 公开日 | 2024/3/26 |
| IPC主分类号 | G06F18/20 |
| 权利人 | 北京紫光青藤微系统有限公司 |
| 发明人 | 杨会峰; 黄金煌 |
| 地址 | 北京市海淀区西小口路66号中关村东升科技园·北领地B-1楼4层401 |
专利主权项内容
1.一种用于磁条卡时间序列的分析方法，其特征在于，包括：对磁条卡刷卡生成的时间序列进行周期分析处理，生成周期序列；对周期序列进行周期预测，获得目标周期预测值；根据目标周期预测值，对时间序列进行数据位判定，获得磁条卡磁道的数据位；对周期序列进行周期预测，获得目标周期预测值，包括：确定周期序列关联的历史周期预测值；对历史周期预测值进行长期预测，获得第一周期预测值；对历史周期预测值进行短期预测，获得第二周期预测值；对第一周期预测值和第二周期预测值进行权重计算，获得目标周期预测值；对历史周期预测值进行长期预测，获得第一周期预测值，包括：选取长周期的历史周期预测值进行直线拟合或者多项式拟合，获得周期数与周期预测值的拟合直线；根据当前周期数，基于拟合直线确定第一周期预测值；和/或，对历史周期预测值进行短期预测，获得第二周期预测值；选取短周期的历史周期预测值进行曲线拟合，获得周期数与周期预测值的拟合曲线；根据当前周期数，基于拟合曲线确定第二周期预测值。