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量子设备性能验证方法及装置、电子设备和介质
摘要文本
本公开提供了一种量子设备性能验证方法、装置、电子设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品，涉及量子计算机领域，尤其涉及量子局域验证技术领域。实现方案为：执行第一操作：通过量子设备生成由第一量子系统和第二量子系统共享的两比特量子态；获取由第一量子系统和第二量子系统共享的贝尔态；分别在第一量子系统和第二量子系统上对两比特量子态和贝尔态中属于其的相应部分执行贝尔测量；响应于执行第一操作预设次数后双方测量结果均相同，确定量子设备生成的两比特量子态为贝尔态。
申请人信息
- 申请人:北京百度网讯科技有限公司
- 申请人地址:100085 北京市海淀区上地十街10号百度大厦2层
- 发明人: 北京百度网讯科技有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 量子设备性能验证方法及装置、电子设备和介质 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311607152.3 |
| 申请日 | 2023/11/28 |
| 公告号 | CN117634632A |
| 公开日 | 2024/3/1 |
| IPC主分类号 | G06N10/70 |
| 权利人 | 北京百度网讯科技有限公司 |
| 发明人 | 王琨; 方堃 |
| 地址 | 北京市海淀区上地十街10号百度大厦2层 |
专利主权项内容
1.一种量子设备性能验证方法，包括：执行第一操作，其中所述第一操作包括以下步骤：通过所述量子设备生成由第一量子系统和第二量子系统共享的两比特量子态；获取由所述第一量子系统和所述第二量子系统共享的贝尔态；在所述第一量子系统上，对所述两比特量子态和所述贝尔态中的属于所述第一量子系统的相应部分执行贝尔测量，以获得第一测量结果；以及在所述第二量子系统上，对所述两比特量子态和所述贝尔态中的属于所述第二量子系统的相应部分执行贝尔测量，以获得第二测量结果；响应于确定所述第一测量结果和所述第二测量结果相同、且所述第一操作的执行次数未超过预设次数，重复执行所述第一操作；以及响应于执行所述第一操作预设次数后所获得的所述第一测量结果和所述第二测量结果均相同，确定所述量子设备生成的两比特量子态为贝尔态。