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一种高精度光电角位移传感器、编码方法及测量方法
摘要文本
本发明涉及航天测控技术领域,特别涉及一种高精度光电角位移传感器、编码方法及测量方法,其中编码方法包括:根据光电角位移传感器参数,确定粗码和细码;粗码由阵列式排布的点位组成,每个点位上有圆点表示0编码而无圆点表示1编码,用于表示各位置编码;细码由等间距分布的等宽竖向条纹组成,每一条纹对应粗码中的一列点位,细码用于提供边缘位置信息;沿圆柱状码盘的周向布设粗码和细码,令粗码中点位列向及细码中各条纹长度方向沿码盘的轴向设置,且粗码的每一列点位均与细码中对应的条纹在码盘的轴向上对齐。本发明能够大幅降低单组位置编码所占宽度,解决位置编码宽度长与光学系统视场小之间的矛盾,进而提高光电角位移传感器测量精度。
申请人信息
- 申请人:北京控制工程研究所
- 申请人地址:100080 北京市海淀区中关村南三街16号
- 发明人: 北京控制工程研究所
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种高精度光电角位移传感器、编码方法及测量方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311344163.7 |
| 申请日 | 2023/10/17 |
| 公告号 | CN117387528A |
| 公开日 | 2024/1/12 |
| IPC主分类号 | G01B11/26 |
| 权利人 | 北京控制工程研究所 |
| 发明人 | 盖芳钦; 梁士通; 王立; 史永敏; 左富昌; 孙秀清; 张俊; 尹路; 张朋; 祝浩 |
| 地址 | 北京市海淀区中关村南三街16号 |
专利主权项内容
1.一种高精度光电角位移传感器编码方法,其特征在于,包括:根据光电角位移传感器参数,确定粗码和细码;其中,所述粗码由阵列式排布的点位组成,每个点位上有圆点表示0编码而无圆点表示1编码,所述粗码用于表示根据编码规则确定的各位置编码;所述细码由等间距分布的等宽竖向条纹组成,每一条纹对应所述粗码中的一列点位,所述细码用于提供边缘位置信息;沿圆柱状码盘的周向布设所述粗码和所述细码,令所述粗码中点位的列向及所述细码中各条纹的长度方向沿所述码盘的轴向设置,且所述粗码的每一列点位均与所述细码中对应的条纹在所述码盘的轴向上对齐。