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动态扰动下应力应变场同步测量方法和系统
摘要文本
本申请提供了一种动态扰动下应力应变场同步测量方法和系统。该方法中,采集圆偏振暗场光路下预制光弹模型的时间序列图像并进行处理,得到不含光栅的时间序列图像;根据不含光栅的时间序列图像对应的光弹条纹级数,计算光弹条纹级数对应的应力场;根据叠加了光弹条纹的光栅的采样数据,计算光弹模型对应的时间序列图像的相位改变量,并除以2π后乘以光弹模型的光栅节距,得到光弹模型对应的时间序列图像中全部区域的位移,进而计算光弹模型对应的时间序列图像的全场应变。籍此,通过在圆偏振暗场光路下,采集预制光弹模型的含有光栅结构的时间序列图像,排除了光弹法和云纹法测量中的相互干扰,实现应力场、位移场、应变场的同时测量。
申请人信息
- 申请人:中国矿业大学(北京)
- 申请人地址:100083 北京市海淀区学院路丁11号
- 发明人: 中国矿业大学(北京)
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 动态扰动下应力应变场同步测量方法和系统 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311593550.4 |
| 申请日 | 2023/11/27 |
| 公告号 | CN117739844A |
| 公开日 | 2024/3/22 |
| IPC主分类号 | G01B11/16 |
| 权利人 | 中国矿业大学(北京) |
| 发明人 | 任张瑜; 鞠杨; 谢惠民 |
| 地址 | 北京市海淀区学院路丁11号 |
专利主权项内容
1.一种动态扰动下应力应变场同步测量方法,其特征在于,包括:采集圆偏振暗场光路下预制光弹模型的时间序列图像,并对采集的所述时间序列图像进行处理,得到不含光栅的时间序列图像;根据不含光栅的所述时间序列图像对应的光弹条纹级数,计算所述光弹条纹级数对应的应力场;根据叠加了光弹条纹的光栅的采样数据,计算所述光弹模型对应的所述时间序列图像的相位改变量;所述相位改变量除以2π后乘以所述光弹模型的光栅节距,得到所述光弹模型对应的所述时间序列图像中全部区域的位移;基于最小二乘法,选取固定窗口,计算所述光弹模型对应的所述时间序列图像的全场应变。