← 返回列表

动态扰动下应力应变场同步测量方法和系统

申请号: CN202311593550.4
申请人: 中国矿业大学(北京)
申请日期: 2023/11/27

摘要文本

本申请提供了一种动态扰动下应力应变场同步测量方法和系统。该方法中,采集圆偏振暗场光路下预制光弹模型的时间序列图像并进行处理,得到不含光栅的时间序列图像;根据不含光栅的时间序列图像对应的光弹条纹级数,计算光弹条纹级数对应的应力场;根据叠加了光弹条纹的光栅的采样数据,计算光弹模型对应的时间序列图像的相位改变量,并除以2π后乘以光弹模型的光栅节距,得到光弹模型对应的时间序列图像中全部区域的位移,进而计算光弹模型对应的时间序列图像的全场应变。籍此,通过在圆偏振暗场光路下,采集预制光弹模型的含有光栅结构的时间序列图像,排除了光弹法和云纹法测量中的相互干扰,实现应力场、位移场、应变场的同时测量。

专利详细信息

项目 内容
专利名称 动态扰动下应力应变场同步测量方法和系统
专利类型 发明申请
申请号 CN202311593550.4
申请日 2023/11/27
公告号 CN117739844A
公开日 2024/3/22
IPC主分类号 G01B11/16
权利人 中国矿业大学(北京)
发明人 任张瑜; 鞠杨; 谢惠民
地址 北京市海淀区学院路丁11号

专利主权项内容

1.一种动态扰动下应力应变场同步测量方法,其特征在于,包括:采集圆偏振暗场光路下预制光弹模型的时间序列图像,并对采集的所述时间序列图像进行处理,得到不含光栅的时间序列图像;根据不含光栅的所述时间序列图像对应的光弹条纹级数,计算所述光弹条纹级数对应的应力场;根据叠加了光弹条纹的光栅的采样数据,计算所述光弹模型对应的所述时间序列图像的相位改变量;所述相位改变量除以2π后乘以所述光弹模型的光栅节距,得到所述光弹模型对应的所述时间序列图像中全部区域的位移;基于最小二乘法,选取固定窗口,计算所述光弹模型对应的所述时间序列图像的全场应变。