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一种可重用验证计划创建方法、存储介质及电子设备
摘要文本
本发明涉芯片验证领域，特别是涉及一种可重用验证计划创建方法、存储介质及电子设备，其通过将验证计划中每个验证点的层次结构信息保存在结构文件的结构数据块中，将每个验证点的非层次结构信息保存在关联文件的关联数据块中，分别得到每个验证计划的结构文件和关联文件；将用户指定的待嵌套的验证模块作为子节点添加到目标嵌套验证点下，并通过索引属性用于指定待嵌套的验证模块的名称，从而实现嵌套功能，其减少了修改范围解决了卡顿的问题，同时修改范围降低也解决了容易出错的问题。 专利查询网
申请人信息
- 申请人:北京云枢创新软件技术有限公司; 上海合见工业软件集团有限公司; 成都融见软件科技有限公司
- 申请人地址:100193 北京市海淀区东北旺北京中关村软件园孵化器1号楼B、C座二层1221室
- 发明人: 北京云枢创新软件技术有限公司; 上海合见工业软件集团有限公司; 成都融见软件科技有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种可重用验证计划创建方法、存储介质及电子设备 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311274553.1 |
| 申请日 | 2023/9/28 |
| 公告号 | CN117331829A |
| 公开日 | 2024/1/2 |
| IPC主分类号 | G06F11/36 |
| 权利人 | 北京云枢创新软件技术有限公司; 上海合见工业软件集团有限公司; 成都融见软件科技有限公司 |
| 发明人 | 汤杰; 高波; 金俏慧 |
| 地址 | 北京市海淀区东北旺北京中关村软件园孵化器1号楼B、C座二层1221室; 上海市浦东新区友诚路149号SK大厦29层; 四川省成都市中国(四川)自由贸易试验区成都高新区吉泰二路266号18栋1单元6楼602号 |
专利主权项内容
来源：马 克 团 队 1.一种可重用验证计划创建方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：S100，将验证计划中每个验证点的层次结构信息保存在结构文件的结构数据块中，将每个验证点的非层次结构信息保存在关联文件的关联数据块中，分别得到每个验证计划的结构文件和关联文件；其中：结构文件包括多个结构数据块，每个结构数据块的层次结构信息包括验证点的唯一标识id和验证点父节点的唯一标识pid；关联文件包括多个关联数据块，每个关联数据块的非层次结构信息包括验证点的唯一标识id和匹配规则；其中，每个结构文件中有且仅有一个根节点；所述关联文件中的关联数据块与所述结构文件中的结构数据块通过验证点的唯一标识id映射关联；S200，获取用户指定的待嵌套的验证模块的名称以及在验证计划中目标嵌套验证点；所述待嵌套的验证模块的层次结构信息保存在结构文件的结构数据块中，且非层次结构信息保存在关联文件的关联数据块中；S300，新建目标结构数据块，所述目标结构数据块的验证点为待嵌套的验证模块，验证点父节点的唯一标识pid绑定目标嵌套验证点，并在目标结构数据块中增加索引属性，所述索引属性用于指定待嵌套的验证模块的名称。