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针对目标易损性分析的群目标投影面积计算方法及系统
摘要文本
本发明涉及一种针对目标易损性分析的群目标投影面积计算方法及系统，属于目标易损性分析技术领域，解决了现有技术中现有投影面积的计算效率低、鲁棒性差、群目标结构无法快速计算的问题。包括以下步骤：建立各待击打目标的各个目标部件的三维几何模型，得到群目标的三维几何模型；基于群目标的三维几何模型，确定投影图像和所述投影图像中的目标部件，进而生成与投影方向一致的射线群；基于所述射线群，确定与所述投影图像中目标部件相交的射线数量，进而得到群目标的投影面积。。更多数据：搜索专利查询网来源：
申请人信息
- 申请人:北京理工大学
- 申请人地址:100081 北京市海淀区中关村南大街5号
- 发明人: 北京理工大学
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 针对目标易损性分析的群目标投影面积计算方法及系统 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311518814.X |
| 申请日 | 2023/11/15 |
| 公告号 | CN117372502A |
| 公开日 | 2024/1/9 |
| IPC主分类号 | G06T7/62 |
| 权利人 | 北京理工大学 |
| 发明人 | 黄风雷; 尹鹏; 刘彦; 晏江; 吕中杰; 马艳丽 |
| 地址 | 北京市海淀区中关村南大街5号 |
专利主权项内容
1.一种针对目标易损性分析的群目标投影面积计算方法，其特征在于，包括以下步骤：建立各待击打目标的各个目标部件的三维几何模型，得到群目标的三维几何模型；基于群目标的三维几何模型，确定投影图像和所述投影图像中的目标部件，进而生成与投影方向一致的射线群；基于所述射线群，确定与所述投影图像中目标部件相交的射线数量，进而得到群目标的投影面积。