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一种测量方法以及装置
摘要文本
本发明公开了一种测量方法以及装置，测量方法在计算设备中执行，该方法包括：获取测量对象的全景图，其中，所述全景图由多个拍摄图拼接而成，任一所述拍摄图与拍摄的测量对象的实体部分成比例关系；基于测量类型，从所述全景图中标记采集点位；根据所述比例关系，将各采集点位映射至所述测量对象的实体上，并通过激光扫描所述实体获取对应点数据；利用所述点数据，获取测量结果。
申请人信息
- 申请人:中国中建设计研究院有限公司
- 申请人地址:100037 北京市海淀区三里河路15号中建大厦A座6层
- 发明人: 中国中建设计研究院有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种测量方法以及装置 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311367052.8 |
| 申请日 | 2023/10/20 |
| 公告号 | CN117537735A |
| 公开日 | 2024/2/9 |
| IPC主分类号 | G01B11/24 |
| 权利人 | 中国中建设计研究院有限公司 |
| 发明人 | 王志兴; 吕峰; 李婷; 徐娜; 崔唯一 |
| 地址 | 北京市海淀区三里河路15号中建大厦A座6层 |
专利主权项内容
1.一种测量方法，包括：获取测量对象的全景图，其中，所述全景图由多个拍摄图拼接而成，任一所述拍摄图与拍摄的测量对象的实体部分成比例关系；基于测量类型，从所述全景图中标记采集点位；根据所述比例关系，将各采集点位映射至所述测量对象的实体上，并通过激光扫描所述实体获取对应点数据；利用所述点数据，获取测量结果。